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高反射特性的金属薄膜。金属反射膜有较宽的高反射率带宽。为防止膜层不被氧化或擦伤,往往在金属膜上再镀制一层保护膜。 ...
在基底上镀有金属薄膜的表面进行挤压或摩擦,使其发生弹塑性形变而形成的周期性表面浮雕结构的光栅。它是一种典型的衍射光栅。 ...
激元对紧靠在金属薄膜表面的介质产生的共振响应来检测生物样品的传感器。 ...
镜上沉积一层金属薄膜作为工作电极。由于红外光束从电极背面(通过棱镜)聚焦在界面上,然后检测到反射辐射,因此溶液层的厚度对入射、出射光的影响可避免,故而液层的厚度将不再受到限制。然而,这种内部反射结构的电极材料仅限于红外窗口棱镜上的一个薄膜(小于100nm),仅限于溅射或化学沉积的少数金属(Au、Pt、Pd等)。石英晶振仪是一种非常灵敏的质量天平,可以测量单位面积内质量的毫微克水平变化。石英是一种压电材料,通常通过金属电极施加适当的电压,可以使其以规定的频率振荡。在电极表面添加或去除少量的质量可以影响振荡的频率。这种频率的变化可以实时监测,以获得电极表面发生的分子相互作用或反应的有用信息,如薄膜 ...
iO)上的贵金属薄膜(如Ag和Au)内部的表面等离子体激元极性耦合良好,然后反射回光场时,其性质(如强度和极化状态)对介质介电常数和磁化非常敏感。光的偏振状态作为信息载体,不仅在生化传感、光通信和超灵敏成像等领域具有巨大潜力,而且在量子信息的光子传递中也发挥着重要作用。金属纳米结构表面附近的入射电磁激励和自由电子集体振荡的耦合模型由于其增强的等离子体和磁光特性(如增强的拉曼散射、可调谐的非线性光学效应、表面等离子体激元(SPP)和磁光(MO)效应(即Zeeman、Faraday或Kerr效应)而受到越来越多的关注。反常磁光克尔效应(MOKE)现象已经在各种纳米结构中被观察到。局部表面等离子体共 ...
透明薄膜,如金属薄膜的首选测量方法。光学测量是通过测量薄膜与光相互作用来决定薄膜特性。光学方法可以测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。光学常数用来描述光通过某种物质时的传播和反射。光学常数可以和材料的其他参数,如成分和带隙联系起来。由于光学测量方法准确,无破坏,只需很少或无需专门样品,光学测量法常常是薄膜测量的首选方法。最常见的两种光学测量法是光谱反射法和椭偏法。光谱反射法测量一定波长内光线查直人射到样品表面时,薄膜衣面反射回来的光。椭偏法则测量非垂直入射光的两种不网的偏振。总的来说,光谱反射法比椭偏法简单、经济得多,但是局限于测量比较不复杂的结构。光学常数 (n和k)描述光如何通过薄膜传播。在 ...
r,频域谱,金属薄膜,电子-声子耦合,温度,金,铝,铬,铂,铜,表一.用于2 TM模型计算的材料列出的属性包括电子-声子耦合常数(g)、电子比热常数(γe)、300 K温度下的热容常数(C1)、电子热导率(λe)和声子热导率(λl)。声子弛豫起始时间trp由2 TM模型计算获得。傅里叶频谱分析图1.金和铝在10 KHz归一化的频率响应幅度的比较。虚线代表1TM温度模式,实线蓝色和橙色代表2TM温度模式光谱,红色代表半峰全宽下100 fs激光泵浦脉冲的光谱为了获得材料的频率响应,将时域谱进行傅里叶变换可得到图1中的频域谱,其中蓝色和橙色的实线是在50 nm厚换能器的顶面的电子温度的光谱。这些光谱 ...
TDTR专题:时域热反射系统的基本原则介绍(一)时域热反射系统 基本光路:在典型的TDTR设置中,如图1。锁模Ti:蓝宝石激光振荡器作为光源,它提供重复频率80 MHz、波长800 nm、150 fs激光脉冲。光学隔离器装在激光振荡器的出口,以防止激光束反射回振荡器。在隔离器前安装半波片调节TDTR测量时的激光功率。然后激光束通过偏振分束器分成泵浦光和探针光。在PBS之前,另一个半波片用来调整泵浦和探针光束之间的功率比。泵束通常在0.2-20 MHz范围内使用电光调制器(EOM)调制频率,然后通过物镜聚焦到样品。另外一些TDTR设置使用声光调制器(AOM),但由于AOM的上升时间长得多,调制频 ...
统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。 ...
于一个优化的金属薄膜堆栈包括自旋电子材料。在飞秒泵浦脉冲的照射下,太赫兹脉冲产生。太赫兹带宽覆盖0.1到30太赫兹的频率,没有任何谱段间隙。发射器是完全被动的,包括集成的磁铁设计,允许简单且完全控制线性太赫兹极化。 超宽谱太赫兹发射器主要特点: ■ 无光谱间隙的超宽带太赫兹辐射 ■ 高太赫兹产生效率,被动式器件 ■ 集成磁铁,可完全轻松360°控制线性太赫兹极化 ■ 稳定性好,可长期使用 ■ 与许多光学装置兼容 ■ 太赫兹光束参数继承泵浦光束 ■ 泵浦光适用波段宽,从中红外到X射线 ■ 泵浦光和太赫兹光束的共线性使太赫兹光谱仪易于实现和直接校准 ...
统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。 时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)通过利用飞秒激光照射样品表层金属薄膜,令薄膜吸收能量并将其转化为热能, 从而传导给样品,并随时间尺度逐渐向样品传递。金属薄膜表面温度随时间回落,从而影响到其反射率。届时再通过测量另一束探测激光的反射强度曲线,通过后续一系列的解调分析,即可得到金属薄膜温度随时间的变化,进而获得被测样品的导热特性和相关热物性参数等。时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)特点:超快动态测量过程,nm级厚度样品测量各项异性 ...
和精度。对于金属薄膜,如TiN, Pt和Ru,两个额外的IR波长增强了在生长过程中监测薄膜厚度和电阻率的能力。通过实时有效地了解不同工艺条件对胶片质量的影响,这种增强的性能有助于我们简化开发工作。”——Bruce Rayner - Kurt J. Lesker公司原子层沉积首席科学家"The FS-1 is an excellent basic ellipsometer. Reliable, easy to use, low maintenance, and great value for money. Films Sense have been great at helping u ...
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