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磁透射软x射线显微术的基本装置全视场软x射线显微镜的光学装置原理与传统显微镜相似。它由光源、聚光镜、物镜和检测器组成。主要的区别是聚光镜和物镜是菲涅耳带片。终端站xm1在高ji光源处的x射线光学设置如图1所示。图1它遵循了Schmahl等人开发的开创性x射线显微镜设计。xm1使用从弯曲磁铁发出的软X射线。在通过一个平面反射镜后,光子被镀上镍以抑制更高的能量,照射到一个中央有一个挡板的聚光带板(CZP)。该CZP提供了样品的部分相干空心锥照明,并与针孔位于样品附近的组合,作为线性单色仪,具有典型的单色性约λ/Δλ = 500。因此,在光子能量为700 eV时,光谱分辨率约为1.3 eV。XM-1 ...
S1上,其中透射光用于后续的实验和正常使用,少量反射光将进入PSD中,用于光束探测。PSD是一种基于半导体PN结横向光电响应的光电器件,根据入射光斑的质心输出电压,两个PSD分别用于检测光束的位置偏移和角度偏移,控制器检测到偏移信息后经过算法将反馈信息给到FSM,控制FSM的旋转,实现对主光束的指向纠偏。下图为使用该系统前后的光斑位置偏移情况,可以明显看到在该系统工作之前光斑的位置是不稳定的,有较大偏移;而在系统开始工作之后,光斑位置基本被控制在原点附近,位置稳定性显著提高。上海昊量光电作为德国TEM的指向稳定系统产品在中国大陆唯yi拥有成熟使用经验,完整技术支持的du家授权代理商,可以为您提 ...
用洛伦兹电子透射显微镜 (Lorentz TEM, L-TEM)在FeGe 材料中首次在实空间发现了斯格明子的电流驱动。图1.斯格明子结构示意图(左侧为Néel型,右侧为Bloch型)在上述研究的基础之上,人们发现,具有拓扑保护性质的磁斯格明子可以被远低于驱动磁畴壁所需的电流密度的电流所驱动,这使得斯格明子作为一种信息传播的媒介而被研究者们广泛关注。斯格明子不连续、驱动速度快、驱动临界电流密度低的特点使得其拥有广泛的应用前景;由此可见,对磁斯格明子的电流驱动的研究同样具有重要的意义。关于自旋轨道矩驱动斯格明子移动的物理图像,在Jiang的综述文章中得到了比较清晰的表述:其原理基本与手性的Née ...
磁性的样品且透射穿过样品后,透射光的偏振面相对于入射偏振光发生一定角度 的偏移的现象。其产生的根本原因,从光学上来讲,就是左旋偏振光和右旋偏振 光在磁性材料中折射率不同,从而使得两种偏振光在磁性样品中传播的过程中产 生了光程差,进而产生相位差,从样品中出射后两种偏振光合成的透射光就表现 为偏振面较入射光来讲发生了一定角度的偏转。塞曼效应是指在外磁场中,光源发出的光的各能级谱线在磁场下进一步分裂 成更多条,并且分裂出的各谱线的间隔和外磁场的大小成正比的磁光效应,该效 应的原理是原子的自旋磁矩和轨道磁矩在外磁场的作用下能级会发生进一步的 分裂。塞曼效应的发现直接推动了量子力学的完善并导致自旋这一自 ...
对薄膜进行双透射测量,根据相位变化,从而确定薄膜的厚度或者得到薄膜的均匀性特征。这对于控制半导体制造过程中的薄膜沉积和蚀刻工艺非常重要。半导体制造过程监测:在半导体制造过程中,波前分析仪可以实时监测晶圆的表面形貌和光学特性,以确保制造过程的一致性和质量。它可以帮助工程师及时发现问题并进行调整,从而提高生产效率和产品质量。2)芯片检测:可以检测芯片表面的形貌、结构、电路布局等参数。波前传感器可以用于检测芯片封装后的光学性能,如光功率、光束质量等。这对于确保芯片在封装后的可靠性和性能非常重要。同时波前传感器可以通过高速测量和数据处理,实现快速检测,提高生产效率。随着人工智能和自动化技术的发展,波前 ...
和s分量的差透射而以椭圆和旋转偏振状态反射。这种去极化产生了四个明亮的象限,由十字分隔。为了获得zui佳的克尔对比度条件,通过正确定位光圈光圈,应将照明限制在conconscopic图像中zui大消光区域,如图1插图所示。对于极性克尔效应,使用中心的虹膜光圈,而纵向效应zui好通过平行于入射平面的偏离中心的狭缝孔径来调节。对于横向克尔效应,偏振片和消光交叉被旋转45◦(由于在反射器去偏振,在这种情况下使用补偿器是强制性的,以获得一个封闭的消光交叉)。此处,垂直于入射平面的位移狭缝或v形狭缝是zui佳解决方案。利用纵向克尔效应,将狭缝孔径置于消光叉的侧支上,形成横向入射面,也可获得横向灵敏度。图 ...
内具有较高的透射率。已通过太赫兹辐射成功的研究了塑料、陶瓷、非法药物、、爆炸物、木材、纸、叶和血液]等广泛的材料。此外,大量基于(次)太赫兹辐射的安全应用程序已经被提出,其中一些是商用的。尽管具有巨大的潜力,针对外部太赫兹研究的应用目前并不普遍。理论上,太赫兹传输成像装置可以由单线源、准直透镜和像素阵列相机组成。这种简单的设置是工业和安全应用程序的一个很有前途的候选者。然而,可实现的分辨率和图像质量分别受到辐照波长、所有光学组件的数值孔径NA以及相机特性(像素大小、灵敏度等)的限制。特别是为了规避光学组件的限制,无透镜成像将是一种很好的选择。到目前为止,频率在0.2-4THz范围内zui常用的 ...
汤姆逊散射;透射式布拉格光栅(TBG) ---角度放大;反射式-超窄带宽滤光片,欢迎客户前来咨询了解。产品主要特点:1.超窄带宽(FWHM可低至20pm);2.高衍射效率(upto 95%);3.偏振不相关;4.物理性能稳定,不易潮解;5.参数可定制(波长、带宽、尺寸、镀膜等);VBG主要参数:n波长范围:350-3000nm;n衍射效率:10%-99%;n半高全款(FWHM):20pm-2nm;n高损伤阈值镀膜(可选)比如波长:405nm,530nm,630nm,780nm,795nm,800nm,810nm,813nm,863nm,895nm,1030nm,1064nm,1341nm,15 ...
(克尔)还是透射(法拉第)。TRKR已被用于III-V型半导体和TMDs的自旋性质研究,是磁光研究的有效工具。如果您对磁学测量有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-150.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。您可以通过 ...
膜上的反射与透射光波在单层膜上的反射和透射示意图如图1-1所示。定义入射光波矢量E在垂直于入射面上的分量为P光,在入射面上的分量为S光。由折射定律及菲涅耳定律知、、的关系为:上述式子中,n1是空气的折射率(1.00),n2是薄膜的折射率,n3是衬底折射率,是光在界面1的入射角,、如图1-1所示,分别是在所测薄膜、基底中的折射角。在图1-1的模型中,经过多次反射折射后,由多光干涉的公式可得zui终反射系数为:其中,d是膜厚,λ是真空中光的波长,2δ是相邻两束反射光的相位差。振幅、相位是描述光波偏振状态的两个参数,在椭偏仪中用Ψ、△来表示。其取值范围是:0≤Ψ≤π/2,0≤△<2π。总反射系 ...
多次的反射,透射的平行光在通过透镜L2汇聚在其焦平面上形成如图2所示的同心原型的干涉条纹。法布里-珀罗干涉仪的原理为多光束干涉原理。图3 多光束干涉原理示意图由图3我们可以看出,一束振幅为A0的光束以入射角θ0入射,经过多次反射与投射,透射出相互平行的光束。设高反膜的反射率为,因此可得第1束透射光的振幅为,后续依次为由等倾干涉可得,相邻的透射光束的光程差为:由此引起的相位差为:若第1束透射光的初相位为零,因此各光束的相位依次为透射光的振动可以用复数进行表示:我们计算其和振动,其中利用了等比求和公式:其中因此可得:求合振动强度时,针对分式项需要用到他与共轭复数的乘积:因此合振幅的平方为:其中 称 ...
选激光光源。透射光学显微镜通常需要比荧光显微镜更低的光强,因此可以使用更小的被动冷却光源。多年来占主导地位的卤钨灯已经被固态显微镜光源所取代。很大程度上是相同的原因,固态显微镜光源在宽视场荧光显微镜也已经取代了汞弧灯。特别是,固态光源的光谱分布(色温)不随输出光强而变化,这是保持色彩一致性的一个重要优势。暗场显微镜利用空间滤波排除未散射的光,从而提供样品的散射光图像。在暗场(DF)的照明下,平坦的表面呈现暗色,而裂缝、孔隙和蚀刻边界等特征则会增强。因此暗场照明可以用于检测不透明、未染色材料(如半导体晶圆)中的缺陷。由于照明必须经过空间滤波,因此需要比透射光学显微镜所使用的光源输出强度更高的光源 ...
BS)反射。透射光频率为f2,通过由动角反射器形成的可变路径,再次通过偏振分束器 (PBS)。这两束光发生相干作用,经一偏振器后,在另外一个光电探测器上产生差频信号。被测和参考差频信号的位相差表示了动角反射器的移动位移。角反射器是有用的,因为它可沿原方向反射回光束,且不会反馈到光源处。但是,在某些应用中,要求使用平面反射镜而不是角反射器。下图给出了使用平面反射镜时的光路结构。通过1/4波片改变测量光束的偏振方向,测量光束两次通过测量路径,因此,分辨率相对于角反射器型加倍。(3)影响测量结果及不确定度的因素当光干涉技术用在长度测量中时,应该考虑空气折射率的影响。空气折射率的校正方法有两种,一种是 ...
的p,s分量透射比、反射比K、反射相移、透射相移的波动,对椭偏测量精度影响很大,且无法通过标定来消除。已有多篇文献指出,NPBS的反射相移、透射相移、透射比和反射比K,受温度、入射角和入射光束偏振态的影响。入射角变化1°,NPBS的和变化约5°,和K变化约5%,且变化规律不同步;而温度引起的相移变化率约为0.12(°)/℃假设×K和+分别变化1%和1°,式(19)给出的椭偏参数误差约为:此时引入的膜厚测量误差约为1nm。NPBS2引入的误差分析根据式(17),用图3描述了NPBS2的方位角对椭偏参数测量误差的影响。(a)幅值比误差(b)相位差误差图3 NPBS2方位角对椭偏参数误差的影响由图3 ...
表NPBS的透射率和反射率,下标p,s表示平行分量和垂直分量。式(8)可以归一化为:其中:K分别是p,s分量的透射比和反射比;分别是NPBS的反射相移和透射相移,如式(10)所示。如果NPBS的p,s轴方向与图1中的Y,X轴不完全重合,而是存在一个方位角误差θ,则NPBS的琼斯矩阵转换为:为简化分析过程,首先假设NPBS2为理想状态,只将NPBS1的琼斯矩阵用式(11)表示。根据上述分析,可得测量信号和参考信号的光强:其中:开始测量时,可以用反射镜代替被测薄膜,得到一个用于标定的幅值比。和相位差△C。这样NPBS1引入的椭偏参数测量误差就可以表示为:如果假设NPBS1为理想状态,而NPBS2的 ...
别代表反射和透射,P,H,B,M和S分别表示PBS、半波片、NPBS、反射镜和薄膜样品的琼斯矩阵,如式(3)所示。将式(1),(3)和(4)带入式(2)可得:忽略不影响结果的常数项,可得两路外差信号的光强如下式所示:比较式(6)中两路信号的幅值和相位,可得椭偏参数对(,△),如式(7)所示,从而反演出薄膜厚度和折射率。测试样品为单层ITO膜,采用原子力显微镜标定,厚度为120.1nm,实验存在5nm的膜厚测量误差。其中,PBS的非理想和激光源输出偏振态畸变会引入混频非线性误差,而NPBS也是一个重要的误差源。了解更多详情,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontec ...
于金属材料,透射光的强度随着材料的厚度呈指数下降。法拉第效应仍然被用于半导体和掺入稀土离子的绝缘体的研究中。实验数据的总量已经变得太大,无法在一篇综述中涵盖。zui近,Buschow和Schoenes调查了大多数积累的实验MO数据,读者可以参考他们。对MOKE光谱学领域的两个主要贡献值得在此提及。第1个是Buschow和van Engen对极地MOKE进行的大规模调查。为了寻找可以应用于MO记录设备的材料,Buschow和van Engen研究了数百种材料的MOKE光谱。在80年代,MO研究的另一个目标是提取有关电子结构的信息,特别是镧系和锕系化合物的电子结构。这一研究指令由Schoenes及 ...
其中:为系统透射率,X为被测斯托克斯椭偏仪的仪器矩阵,Mwp和MP分别为定标单元中波片和起偏器的Mueller矩阵,和分别是偏振片和波片的方位角,为波片的相位延迟。图1 斯托克斯椭偏仪仪器矩阵定标光路示意图非线性zui小二乘拟合方法中被拟合参数的选择如下:(1)选用消光比大于10000:1的起偏器,可以认为起偏器是完美的,此时入射光的圆偏振分量不影响实际定标。因此,仅选择入射光的斯托克斯参数中两个线偏光分量S1和S2作为未知参数即可;(2)校准过程中,波片快轴相对于起偏器透射光轴存在的误差为。此外,由于制造误差,定标单元的波片可能并非精确的1/4波片。假设波片的相位延迟为δ,非线性zui小二乘 ...
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