SCMOS相机 光束分析仪 DMD 光纤束 合束激光器 共焦 拉曼光谱仪 锁相放大器 无掩膜光刻机 高光谱相机
Film-Sense多波长椭偏仪上海昊量光电推出的多波长椭偏仪采用长寿命的LED光源,可分别提供405nm、450nm、465nm、525nm、595nm、635nm、660nm、850nm、950nm六种不同波长,并使用无移动部件的椭偏仪,紧凑的系统提供快速可靠的薄膜测量。通过1秒的测量可以精确的测量0-5000nm的大多数透明薄膜的厚度。并可以获得n和k等光学常量。相比于单波长椭偏仪,多波长椭偏仪可测定薄膜厚度,对于透明薄膜测量厚度至少可达5μm,不存在厚度周期性问题;可确定样品其它其它参数特性例如薄膜粗糙度、多层膜厚度等;对数据分析提供检测依据,一个良好的分析模型应该适用于不同波长的数据 ...
高灵敏度高分辨率光纤光谱仪(国产)光纤光谱仪产品简介 我们推出两款科研级高性能光纤光谱仪,用于高灵敏度和高分辨率的特点。其中,光纤光谱仪AUT-ES2000采用了Hamamatsu 背照式的面阵 FFT-CCD,可以完美地应用于那些需要高量子化效率和更宽谱段的领域,特别是水果分选市场。光纤光谱仪AUT-HRS4000 使用了 Toshiba 线阵高分辨 CCD,可以完美地应用于那些需要高分辨的测量领域。光纤光谱仪产品图片光纤光谱仪产品参数 AUT-ES2000高灵敏光纤光谱仪 AUT-HRS4000高分辨光纤光谱仪光谱范围370nm~1050nm(典型)200nm~1100 ...
非接触式薄层电阻测试仪昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层方块电阻测量的非接触式方阻测量仪EddyCus TF Series,这款非接触式方块电阻测量仪可以非接触式实时测量,对导电薄膜和金属方块电阻精确测量,表征已被隐藏和封装的导电层,并把测量数据保存和导出。非接触式方块电阻测试仪主要测试对象:镀膜建筑玻璃,如LowE显示器,触摸屏和平板显示器OLED和LED智能玻璃石墨烯层光伏晶圆和电池半导体晶片金属化层和晶圆金属化电池电极导电涂布纸和导电纺织品非接触式单点方阻测试仪EddyCus TF Lab 2020SREddyCus TF Lab 2020SR是非接触式单点薄层电阻测量系统。该装置包含 ...
中红外光学断层相干成像系统(MIR OCT)中红外OCT利用红外光对特定材料的穿透性能,比如工业膜,陶瓷,纸张,纤维、聚合物等,可用于无损检测、厚度测量、亚表面缺陷检测等。参数指标:中心波长4.1um带宽1.1um轴向分辨率(in air)<9um横向分辨率<16um成像深度(in air, 6dB roll off)2.3mm线扫速度3.3kHzB-Scan采样时间(1,000 point)0.3s扫描面积(mirror scan)3×3mm扫描面积(mechanical stages)75×75, 100×100, or 200×200mm设备尺寸(L×H×W)65×65×17 ...
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