高度标准块
SILIOS公司提供各中采用其技术生产的垂直高度标准块,主要用于原子力显微镜(AFMs)及扫描探针显微镜(SPMs)的校准工作。高度从 1nm到 20 nm.
Code | Step Height Range(1) |
SIL020 | 20 nm |
SIL010 | 10 nm |
SIL005 | 5 nm |
SIL001 | < 3 nm |
Tolerances : Typical : +/- 1 nm
Option 1 : SILIOS certified (optical and mechanical measurements)
Option 2 : Certification from an accredited laboratory (ISO5436 based)
产品标签:高度标准块