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高频振动测试仪

GHz振动观察测量系统(基于Sagnac干涉仪) 显示全部
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GHz振动观察测量系统(基于Sagnac干涉仪)

高频(GHz)振动观察仪

所属类别:专用实验设备 » 高频振动测试仪

所属品牌:

技术服务人员:李工(William)

电话:156 1809 2363

邮箱:wentao-li@auniontech.com


GHz频段高频振动测试仪


随着全球通讯的增长和工业上各个领域对快速和高质量通讯技术的需求日益增长。特别是持续增长的智能手机和物联网市场。GHz频段振动装置被认为是这部分技术的基础和重要组成部分例如 叉指换能器(IDT)。但是在快速通讯时代发展的时代,用于检测和分析GHz频段分析的设备却相对比较匮乏,为了充分支持GHz频段设备的发展我们研发了基于Sagnac 干涉仪的GHz频段的高频振动观察系统。该系统不仅可以进行基本的高频分析,而且可以探测到在低频区遗漏的高频信号。



高频振动(GHz)观测系统基于Sagnac干涉仪原理,专门为特殊样品的高频振动的可视化而设计的。激光通过Sagnac干涉仪照射到振动样品上使系统获得干涉信号,干涉信号和样品驱动信号都采用锁相放大器处理。记录信息和测量位置可转换为视频格式,从而使振动分布可视化。





产品特点:

使用激光为探针,实现非接触测量

Sagnac干涉仪对低频的灵敏度低,可以不受外部低频振动影响

自动聚焦校正功能

二维FFT处理,实现滤波功能

 

应用示例:



产品参数:

Product Model

MLD 101Series

Measurement Vibration Range

50MHz-3GHz

Signal Generator

Supporting 3GHz, +17dBm signal output (2 channel, SMA ports)

Laser light source

650 nm (Typ.) Diode Laser

Single laser spot size

1 mm with ´100 objective lens

Microscope

Lens revolver type

Objective lens selection

´20 (W.D.: 12mm)

´50 (W.D.: 10.6mm)

´100(W.D.: 3.4mm)

´5 Lens is available for measurement positioning

Motorized stage

X-Y axis, and focusing

XY stage motion range

± 12.5 mm(Typ) with positioning resolution 0.1 mm

Sample signal interface requirement

SMA connector and base substrate



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产品标签:高频振动测量仪,GHZ振动测量仪,高频振动成像系统,Sagnac干涉仪,Sagnac,GHz振动观察测量仪,观察测量仪,振动测量仪,振动成像系统,干涉仪

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