检索词条 —— 波前传感器

SID4 波前传感器/波前分析仪【SID4简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器，SID4覆盖可见光和近红外范围，是适用于

灵敏度、高速波前传感器可以实现实时的大气湍流校正ALPAO大口径（240mm）高速连续变形镜技术原理：下面这幅的动画展示了我们独特的薄膜、线圈、磁铁和弹簧技术。通过在线圈中施加电流，磁铁上下移动以使薄膜变形。 泽尼克像阶校正：ALPAO大口径（240mm）高速连续变形镜产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发

SID4-HR 波前传感器 / 波前分析仪【SID4-HR 简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-HR为要求苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨

SID4-V波前传感器的独特设计使其可在真空环境下（10-6mbar）实现激光波前/激光等离子体/电子密度等的测量，获得更准确的测量结果。波前分析仪产品特点：1）真空环境兼容：>10-6mbar2）分辨率高：160x1203）宽波段：400-1100nm4）软件功能：包含激光波前和Plasma检测模块5）可直接测量发射光束：NA值0.2波前分析仪指标参数：

径超高分辨率波前传感器【SID4-UHR 简介】SID4-UHR超高分辨率波前传感器可用于光学计量需求。 它结合了SID4的易于光路搭建的特点，并拥有超高分辨率及相位精度。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 SID4-UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查（表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等）和光学组件的表征（镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等）。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器搭载高性能相机，也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512（可选高至666 x 666）相位取样分辨率使SID4-UHR成为

-UV 紫外波前传感器/波前分析仪【SID4-UV波前分析仪简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。SID4-UV波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-UV波前分析仪作为低可

-HR 紫外波前传感器/波前分析仪【SID4-UV-HR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-

短波近红外波前传感器 / 波前分析仪【SID4-SWIR 简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-SWIR波前传感器将Phasics的四波剪切

短波近红外波前传感器 / 波前分析仪【SID4-SWIR-HR波前传感器 简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;SID4-SWIR-HR波前传感器结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4

IR 近红外波前传感器/波前分析仪【SID4-NIR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测

全面的高性能波前传感器。一、 KALEO MTF主要特点兼容大视场角及高主入射角镜头MTF与波前像差的实时测量显示共轴离轴测量无限远-有限远光学系统二、KALEO MTF应用光学元件及光学系统计量三、KALEO MTF测量结果同轴和离轴 MTF通过焦点MTF透射波前误差泽尼克多项式镜头参数：EFL、f#镜头出瞳中的 OPD散光畸变场曲相对照度四、KALEO MTF 测试案例五、KALEOMTF 指标参数MTF共轴测量精度<1%*MTF共轴测量重复度<0.5%*MTF离轴测量精度<2%**MTF离轴测量重复度<1%**MTF截止频率1000 cc/mm畸变测量精度<

SID4-DWIR波前传感器/波前分析仪【SID4-DWIR波前传感器简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;SID4-DWIR波前传感器结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。SID4-DWIR波前传感器是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的

全面的高性能波前传感器。一、 KALEO 多波长激光干涉仪模块主要特点多功能性：覆盖从紫外到红外多个波段的独立解决方案及兼容模块强大独特的波前技术：兼顾高分辨率、高动态范围及纳米级相位灵敏度操作简易：系统紧凑且便于快速对准 非准直光入射 消色差二、KALEO 多波长激光干涉仪模块应用光学元件及光学系统计量 适配各种应用的测试场景三、KALEO多波长激光干涉仪模块选用指南可选波前传感器型号SID4 UV / S

灵敏度、高速波前传感器可以实现实时的大气湍流校正。 ALPAO模式控制变形镜（DMM）可以很好地校正常见的光学像差。每个控制信道对应于一个光学模式（例如聚焦或像散），操作简单。它被设计成可以很容易地集成到带有标准管包装的系统中。产品优势：变形量大：100um(大波前倾斜变形，峰谷值) ；拟合误差小：低至2% ；集成度高：OEM设计，镜头与驱动结合一体，体积仅为50mm x 5omm ；操作方面：基于模式控制，每个驱动控制对应一个模式（低阶泽尼克像差）；低电压、低能耗；软件方面，兼容MatLab,Labview,C++及Python语言及操作系统，不需要其他驱动即可运行；

灵敏度、高速波前传感器可以实现实时的大气湍流校正 Alpao变形镜，Alpao Deformable Mirrors, Alpao DM, Deformable Mirrors, 可变形反射镜, 变形镜，Adaptive Optics System, 自适应光学系统, WFS, Wavefront Sensor，波前传感器，自适应光学天文望远镜，Adaptive Optics Telescope，MEMS deformable mirror, 微机电系统变形镜 Alpao变形镜是一款使用电磁驱动器的高速、高线性度和大波前调制量连续反射面变形镜，配合Alpao的自适应系统控制算法，其可以极好地

ann哈特曼波前传感器以及Alpao的自适应光学系统控制软件，其适合于天文、自由空间激光通信、多光子荧光显微镜等方面的应用。 关键词：Alpao变形镜，Alpao Deformable Mirrors, Alpao DM, Deformable Mirrors, 可变形反射镜, 变形镜，High Speed Closed Loop Adaptive Optics System, 高速闭环自适应光学系统, WFS, Wavefront Sensor，波前传感器，哈特曼波前传感器，Shack–Hartmann WFS, 自适应光学天文望远镜，Adaptive Optics Telescope，ME

波前分析仪、波前传感器、迈克尔逊干涉仪、便携式干涉仪、光学传函仪超分辨激光干涉仪基于便携式、高灵敏度、高精度波前分析仪。该激光干涉仪采用四波剪切干涉技术，与传统干涉仪相比较具有结构紧凑，使用方便，无需标准件，检测稳定性，直接测量任意的波前、高分辨率（300x400采样点）、激光波长覆盖400-1100nm、消色差、高动态范围（500um）等优点。 超分辨剪切干涉仪可用于激光波前检测、激光强度检测、等离子体密度检测、透镜检测、高功率激光自适应、光刻机检测、精密光学元器件检测、光学系统装调、镜头模组检测、传递函数（MTF）检测等。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪并可实时检测为客户提供优化的数

透射式、小体积、高性价比自适应镜头（Adaptive Lenses）！ 意大利Dynamic Optics公司的自适应镜头可以取代传统的变形镜做波前畸变的矫正，自适应镜头具有体积小、透射式的独特优势，可以用于设计紧凑型的自适应光学系统中。 Dynamic Optics 公司的多驱动自适应镜头可以矫正多达4阶的泽尼克多项式( 4th order of Zernike polynomial ),矫正速度可达 < 5ms。它是理想的应用于自适应光学的新工具,在外形尺寸、性价比、操作简便性等方面具有巨大的优势。 Dynamic Optics 公司的多驱动自适应镜头在自适应光学，双光子

-Shack波前传感器配置是为全面分析激光束和光学特性而设计。系统采用微透镜阵列将入射波分成大量的子射线（如右下图），每个焦点的强度和位置由CCD相机获取，经后续计算重构得到光强分布和波前分析。 主要特点： ** 详细指标要求，可咨询上海昊量光电设备有限公司。

（DM）+ 波前传感器（WFS）+ Osay (自适应软件)