中文:扫描探针显微镜;英文:scanning probe microscope / SIM

解释
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基于扫描隧道显微镜的基本原理设计出的超近扫描高分辨率显微镜。分辨率可达纳米级,并可将观察的原子或分子形成三维图像,是原子力显微镜(AFM)、激光力显微镜 (LFM)、磁力显微镜(MFM)等的统称。