展示全部
域观察方法，透射电子显微镜(TEM)，在观察不同形状和大小的样品的能力方面受到限制。在观察样品时，也很难对其施加外界影响，如磁场和物理应力。TEM的视野也比克尔显微镜小，比克尔显微镜便宜，并且使用的材料和物品可以用于其他目的。克尔显微镜是考虑到成本的通用的领域观察技术之一。它可以观察广泛的磁性样品，可用于各种磁性器件。虽然还有其他可用的观察技术，但在今天的现代磁性材料实验室中，采用克尔效应的观察技术是一种有效的解决方案。如果您对磁学测量相关产品有兴趣，请访问上海昊量光电的官方网页：https://www.auniontech.com/three-level-150.html更多详情请联系昊量光 ...
像洛伦兹模式透射电子显微镜(TEM)和带极化分析的扫描电子显微镜(SEMPA)可用于高分辨率探测磁畴和磁化。然而，这种方法需要昂贵的电子光学器件和真空条件，这限制了应用范围。在原子力显微镜(atomic force microscopy, AFM)广泛应用于纳米尺度研究的基础上，磁力显微镜(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而，MFM不能直接测量材料的磁化强度，只能检测表面附近的磁杂散场。此外，为了避免影响TEM和SEMPA中的电子运动，几乎没有施加外磁场。在MFM技术中，外磁场下的测量应谨慎处理，以免磁化悬臂梁受到损伤。此外，当样品为软磁材料时，磁 ...
辨率亮场扫描透射电子显微镜（STEM）观察了具有清晰界面的单个层的外延生长。图1c中的高分辨率TEM （HRTEM）图像表明，获得了具有特定厚度的几乎完美的单晶连续薄膜堆栈。利用二次电子质谱（SIMS）分析了膜层中元素的分布和界面处的z小混合情况，如图1d所示。验证了Co， Pt和Fe原子在SAF中的正确均匀分布，并支持了CoFeB（0.8）与Co（0.6）铁磁耦合的垂直自旋极化（PSP）层中薄膜的高质量和良好的垂直磁各向异性（PMA）（图1f）。图1首先，详细研究了SAF结构PSP铁磁层中有效IEC场驱动下的DW运动。通过施加正场饱和脉冲进行DW速度测量，并记录了小负偏置场下的参考图像。然后 ...
或 投递简历至: hr@auniontech.com
