中文：荧光寿命成像；英文：fluorescence lifetime imaging / FLIM

的激发光）和荧光寿命成像（485nm的激发光）来分别记录拉曼光谱和时间分辨荧光衰减光谱。如下图1为纯物质在532nm激发光下的MoTe2,1% Fe-MoTe2，2% Fe-MoTe2和5% Fe-MoTe2拉曼光谱图，从图中可以看出对于理想的2H-MoTe2结构有三个拉曼活性模型，根据第一性原理计算和图1中的插入图可知，两个明显的峰（A1g和E12g）可被指认为两个振动模式。相比较2%和5%的Fe-MoTe2，在170cm-1（A1g）和230cm-1（E12g）振动处可观察到明显的蓝移现象，这表明低浓度的Fe离子掺杂会导致MoTe2晶格对称性的选择性的轻微破坏。图1 在532nm激发光下的 ...

的激发光）和荧光寿命成像（485nm的激发光）来分别记录拉曼光谱和时间分辨荧光衰减光谱。如下图1为纯物质在532nm激发光下的MoTe2,1% Fe-MoTe2，2% Fe-MoTe2和5% Fe-MoTe2拉曼光谱图，从图中可以看出对于理想的2H-MoTe2结构有三个拉曼活性模型，根据第一性原理计算和图1中的插入图可知，两个明显的峰（A1g和E12g）可被指认为两个振动模式。相比较2%和5%的Fe-MoTe2，在170cm-1（A1g）和230cm-1（E12g）振动处可观察到明显的蓝移现象，这表明低浓度的Fe离子掺杂会导致MoTe2晶格对称性的选择性的轻微破坏。图1 在532nm激发光下的 ...

荧光寿命成像技术在微塑料识别中的应用微塑料问题已成为全qiu关注的环境问题，其在多种生态系统中的累积导致了对野生生物及人类健康的潜在风险。荧光寿命成像（FLIM）技术作为一种先jin的识别手段，在微塑料研究领域显示出巨大的应用潜力。随着塑料使用量的持续增长，微塑料的环境污染问题日益严重。传统的微塑料检测方法往往耗时且效率不高。FLIM技术提供了一种高效的解决方案，能够通过分析微塑料的荧光寿命来快速识别和分类这些污染物。FLIM技术的核心在于使用荧光寿命作为区分不同物质的依据。荧光寿命是指材料被激光激发后，发出荧光持续的时间。在FLIM设备中，一个特定波长的激光被用来激发微塑料样本。样本吸收激光 ...

扫描式荧光寿命成像技术简介一、扫描式荧光寿命成像技术的原理为了更详细地解释扫描式荧光寿命成像技术（FLIM），我们可以从其基本原理着手。FLIM是一种基于荧光寿命差异进行成像的技术，荧光寿命是指荧光分子在激发状态下保持的平均时间长度。这个时间由分子环境、化学组成以及与其他分子的相互作用等因素决定。在FLIM实验中，首先用激光激发样品，然后测量荧光分子返回基态前发射光子的时间。这个时间通常以皮秒到纳秒为单位，对于不同的荧光分子或同一种荧光分子在不同环境中，这个时间是变化的。通过分析这一时间的分布，可以得到荧光分子所处环境的信息。这些信息以颜色编码的形式在图像上显示，从而得到既包含空间分布又含有环 ...

/TCSPC荧光寿命成像/电感耦合等离子体发射光谱模块电化学等原位实验定制化服务激发光光纤接口3.荧光寿命成像模块测量范围100ps-10us时间分辨率<50ps探测效率高达49%死时间<77ns激发光波长 266nm-1990nm脉宽6ns重复频率31.15KHZ-80MHZ4.光电流成像模块探针台位移精度1um(X/Y),10um(Z)探针台移动范围 13mm(X/Y).20mm(Z)探针溢泄电流 10fA标准选配源表 Keithley 2400, 其他源表可做适配5.电感耦合等离子体发射光谱模块6.激发光及信号光偏振控制模块7.低波数拉曼模块 ...

可实现高效率荧光寿命成像。您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。 ...

TDC及TCSPC的技术原理-TCSPC高精度时间相关单光子计数模块TDC技术和TCSPC技术都是用来进行时间测量的技术手段，虽然应用范围大致相同，但是原理却不同。TDC原理如右图所示。来自单光子探测器的光电子信号脉冲和来自激光器的参考脉冲输入到延迟链中。时序逻辑查看延迟链中的数据，识别单光子和及激光脉冲的开始-停止对，并以此方式确定单光子在激光脉冲序列中的时间位置。然后，可以根据这些数据，建立通常的TCSPC/FLIM光子分布。TCSPC技术所基于的原理是：在记录低强度、高重复频率的脉冲信号时，由于光强很低，以至于在一个信号周期内探测到一个光子的概率远远小于1。因此，没有必要考虑在一个信号周 ...

能、多功能的荧光寿命成像系统创造了条件。图3FLIM系统示意图上海昊量光电zui新推出了意大利FLIM LABS公司的荧光寿命成像FLIM入门套件系统，专门为追求单光子FLIM成像和荧光寿命光谱应用而设计，能为您带来高性能、高性价比的FLIM解决方案。该套件包括荧光寿命成像FLIM数据采集卡TDC、光纤耦合皮秒脉冲激光器模块、SPAD单光子探测器与荧光寿命成像FLIM软件，并在您需要时提供恒比鉴相器模块。图4 FLIM LABS的荧光寿命成像FLIM入门套件FLIM数据采集卡TDC：我们的紧凑型USB 供电数据采集卡专为荧光寿命成像和光谱测量而设计。其基于FPGA的可定制技术，尺寸101x13 ...

、激光雷达、荧光寿命成像、单光子源表征等领域的得力帮手。图6 单光子探测器模块图7 时间相关计数器 Time Tagger Ultra纠缠源、探测器与计数器的页面如下图所示。纠缠源可通过仪器自带的触摸屏进行衰减、晶体温度、开关等设置，操作简便。也可通过usb线连接至PC，在PC端进行设置。单光子探测器可实时观察到当前实验环境温度与探测值，并可简便修改Count rate、dead time、效率、探测模式等，我们还可以设置输出信号参数形式，以数字信号、模拟信号、NIM进行输出。我们选择输出数字信号进入计数器。计数器中有众多预设，如“Counter time trace”、“Bidirectio ...

度成像相比，荧光寿命成像的主要优点包括对荧光团浓度、光致漂白和深度不敏感。此外，荧光寿命对各种环境参数，如氧含量或pH的敏感性，使其成为功能成像的有效工具。且当背景荧光寿命与目标显著不同时，FLIM允许通过门控来抑制背景荧光。时域宽视场FLIM常用的图像传感器技术包括时间门控图像增强器与sCMOS或CCD相机相结合，或微通道板（MCP）和基于光电阴极的宽视场探测器结合。由于增强器的增益较大，时间门控图像增强器的动态范围较低，且成本昂贵。由于涉及的超高电压，MCP在zui大可实现的全局计数率上是很有限的，且实际使用同样昂贵和复杂。标准CMOS技术中单光子雪崩二极管（SPADs）的发展，以及大型C ...