Iceblink超连续激光作为金纳米光栅线性光学表征工具摘要：为探索超越传统电子器件的光子技术，本研究聚焦金属纳米结构在亚波长尺度下的非线性光学特性。实验利用飞秒激光器激发金纳米光栅，重点分析了二次谐波（SH）与三次谐波（TH）的变频效率。结果表明，该结构实现了显著的非线性频谱转换增强，其中二次谐波信号增强3个数量级，三次谐波信号增强3200倍，为非线性光学应用提供了新思路。随着人们对更紧凑、更经济、更高效的设备的兴趣日益浓厚，光子技术正在超越传统的电子设备。在这个范围内，为了找到合适的材料和几何形状，做出了巨大的努力。在寻找具有高导电性的材料时，金属是常用选择；它们具有很强的反射率，因此它们 ...
低占空比脉冲激光如何实现稳定锁相成像？Moku:Pro + 高速锁相相机实验应用一、heliSens S4：把锁相检测从单点扩展到二维高速锁相相机将信号检测与处理集成到面阵传感器中，在像素级执行大规模并行双相解调。根据产品资料，每个像素可实时获得光信号的幅度和相位信息，并支持可达 250 kHz 的信号解调能力。heliSens S4 的核心优势在于：它不是单纯提高拍摄速度，而是将相敏检测直接做到二维成像面上。Helisecs公司提供有C4.0.S40 / C4.0.S40U / C4.0.S41U不同型号，不同性能的锁相相机。项目C4.0.S40 / C4.0.S40U / C4.0.S41 ...
高功率激光功率波动如何测？积分球方案响应速度约为热电堆的1000倍高功率激光功率测量有个绕不开的取舍：热电堆吃得下高功率，却只能给出秒级的平均值；光电二极管快得多，可过载能力只有毫瓦量级。Artifex 用集成积分球的激光功率计把这两个矛盾同时解开——这也是它逐渐应用于高功率激光测量的原因。一、热电堆给你的是一段平均值，而不是一条曲线激光功率测量的核心是检测头里的传感器，它的物理机制决定了整台仪器的特点。热电堆基于 Seebeck 效应，由许多热电偶热并联、电串联构成，探测面涂覆哑光深黑吸收材料，尽量多吸收入射功率且与波长无关。这带来一串连带问题：它的灵敏度很低——单个热电偶产生的电压太小，只 ...
三维光镊的Z轴瓶颈：AOD如何用变焦实现原子离面穿梭2025 年，加州理工学院在Nature上报道了6100个高相干中性原子比特组成的光镊阵列，引发广泛关注。但阵列越大，需要搬原子的操作就越多，任意两个比特之间的纠缠门、计算中途的测量、无碰撞的重排都属于这一类，而为了减少串扰，阵列的原子间又不能排列的过于紧密，需要留出原子的“过道”，这就是二维AOD光镊阵列的限制。于是有团队把目光从平面内挪到了平面外：如果光镊能沿光轴把原子“提起来”，这些操作就有了新的走法。荷兰Eindhoven理工大学的Guo等人用商用AOD搭出一套双通声光透镜（acousto-optic lens，AOL），在不改动器件 ...
石墨烯SERS检测的精度之战：你的光谱仪，真的“看”得够清吗？拉曼光谱是材料科学家的“眼睛”，通过光子与分子振动的非弹性散射，它能告诉我们碳原子的排列是否整齐、缺陷有多少、掺杂水平如何。但对于石墨烯这类二维材料，这双“眼睛”面临着严峻考验：石墨烯的本征拉曼散射截面较小，微弱的信号如同暗夜中的萤火虫，稍有不慎就会淹没在噪声里。当研究者试图在石墨烯上构建高灵敏度的表面增强拉曼光谱（Surface-enhanced Raman spectroscopy，SERS）检测基底时，这种考验对检测系统提出了更高要求——他们需要分辨I2D/IG比值从1.8骤降至0.3的细微变化，需要在强G峰旁边捕捉到几乎不可 ...
从多光束干涉到3cm/s频率稳定：FP标准具的高精度光谱“标尺”之路一、高分辨率光谱为什么需要一把稳定的“光学尺”在普通光谱实验中，研究人员首先关心“有没有谱线”；进入高分辨率和高精度阶段后，问题会进一步变成“谱线究竟位于哪个频率、经过一段时间后是否仍在同一位置”。温度、机械应力、空气折射率变化以及光谱仪内部漂移，都可能让探测器上的谱线位置发生微小变化。于是，一个具有规则频率间隔、能够重复读取的参考谱就成为系统校准的关键。Fabry-Pérot（FP）标准具的优势正在这里：用宽带光照明时，其透射谱会出现一串近似等间隔的窄峰，相当于在频率轴上放置大量规则“刻度”。这些刻度可用于追踪光谱仪漂移、标 ...
SmartPrint UV无掩模光刻机-科研半导体光刻应用中的研发“加速器”和工艺“探索器”！一．当光刻不再需要掩模版科研及半导体实验室里有一个常见说法：成本压力不仅来自光刻胶和硬盘，也来自每改一次设计就得重新制作的掩模版。一张标准掩模版动辄千元，周期两三周，当研发节奏越来越快，这种“每改一笔就得等半个月”的模式已经成为创新的主要限制因素。Smart Print UV 是昊量光电推出的一款基于 DMD（Digital Micro-mirror Device，数字微镜器件）投影技术的无掩模光刻系统。它用一块 DMD 芯片替代传统硬掩模，直接把 CAD 设计投影到光刻胶上——想写什么就写什么，从设 ...
磁场界的“全息透视眼”！Metrolab HallinSight®磁场相机，重新定义2026测量新标准涡旋光束的传输特性摘要：本文以“磁场界的全息透视眼”为核心隐喻，详细阐述了该产品如何通过真三维阵列传感技术，解决传统单点测量在效率与维度上的痛点。内容涵盖了其在电机研发、电磁兼容及科研领域的具体应用，强调了其“真三维同步感知”、“无插值高速测量”及“微米级几何精度”的技术壁垒，并通过对比传统特斯拉计突出了其在数据可视化与动态捕捉方面的优势，zui后介绍了Metrolab的品牌背景与中国代理商星朗浩宇的服务承诺。告别单点盲测，瑞士黑科技让磁场分布“一览无余”在电机研发的攻坚时刻，您是否还在为气隙 ...
面向不同波段与高NA的紫外光学系统表征方法在半导体微纳加工与高端光刻系统中，紫外（UV）及深紫外（DUV）光学系统构成了工艺节点的物理基石。随着制程技术的演进，紫外光谱被精细地切割为多个独立的工作波段，每一个波段都对应着特定的光源形态、数值孔径（NA）极限以及成像架构。这种高度分化的技术路线，决定了光学表征方法必须具备极强的场景依赖性与针对性。一. 物理边界：瑞利判据与k₁因子的博弈光刻系统本质上是一个受衍射限制的投影成像系统。其分辨能力由瑞利判据（Rayleigh criterion）严格定义：CD = k1 · λ / NA其中λ代表波长，NA 代表数值孔径，这里的NA指晶圆侧在浸没介质中 ...
Moku 一体化测试方案：从 Allan 标准差到系统稳定性分析引言在上一篇文章《Allan 方差理论和测量方法》中，我们系统介绍了 Allan 方差（Allan deviation）的理论基础，以及它在分析系统稳定性中的重要作用。在实际测量中，如何更高效测量 Allan 标准差？是选择实时观测，还是导出数据再分析？是用于快速调试，还是进一步完成深度分析与建模？在本文中，我们将介绍一种更为高效且灵活的方法：通过 Moku 相位表，即可实现两种 Allan 标准差分析方式，帮助用户在不同测试场景下快速完成稳定性评估。Moku:Delta 配备8通道输入/输出，2 GHz /6 GHz输入带宽，内 ...
或 投递简历至: hr@auniontech.com
