拉曼在羟基磷灰石/碳纳米管纳米复合材料稳定化方案中的应用在电磁学的shi界里,磁场测量是连接理论与应用的桥梁。无论是电机能效的优化,还是新型磁性材料的研发,其核心都建立在一个看似简单却极难实现的目标之上:获取真实、可靠、可重复的磁场数据。然而,长久以来,这个领域都笼罩在“10%误差”的阴影之下。传统的手工绕线测量方法,因其固有的不稳定性,成为了制约科研与工业进步的瓶颈。2024年12月,国际磁学领域期刊 IEEE Transactions on Magnetics 发表了一项突破性研究,提出了一种基于印刷电路板(PCB)的新型传感器,成功将测量误差压缩至1%。当我们深入剖析这篇论文的每一个细节 ...
面向不同波段与高NA的紫外光学系统表征方法在半导体微纳加工与高端光刻系统中,紫外(UV)及深紫外(DUV)光学系统构成了工艺节点的物理基石。随着制程技术的演进,紫外光谱被精细地切割为多个独立的工作波段,每一个波段都对应着特定的光源形态、数值孔径(NA)极限以及成像架构。这种高度分化的技术路线,决定了光学表征方法必须具备极强的场景依赖性与针对性。一. 物理边界:瑞利判据与k₁因子的博弈光刻系统本质上是一个受衍射限制的投影成像系统。其分辨能力由瑞利判据(Rayleigh criterion)严格定义:CD = k1 · λ / NA其中λ代表波长,NA 代表数值孔径,这里的NA指晶圆侧在浸没介质中 ...
Moku 一体化测试方案:从 Allan 标准差到系统稳定性分析引言在上一篇文章《Allan 方差理论和测量方法》中,我们系统介绍了 Allan 方差(Allan deviation)的理论基础,以及它在分析系统稳定性中的重要作用。在实际测量中,如何更高效测量 Allan 标准差?是选择实时观测,还是导出数据再分析?是用于快速调试,还是进一步完成深度分析与建模?在本文中,我们将介绍一种更为高效且灵活的方法:通过 Moku 相位表,即可实现两种 Allan 标准差分析方式,帮助用户在不同测试场景下快速完成稳定性评估。Moku:Delta 配备8通道输入/输出,2 GHz /6 GHz输入带宽,内 ...
一张照片,全幅清晰!看AI超景深显微镜如何征服“凹凸不平”的考古文物三维微观结构近年来,超景深显微镜在科技考古与文物保护领域的应用越来越广泛,下文给出几个使用案例。一、为什么观察文物需要超景深显微镜?普通光学显微镜景深小,适合观察“薄而平”的样本,而文物往往“厚、大、凹凸不平、脆弱”,需要景深大的超景深3D数码显微镜才能在同一时间看清不同高度的表面。超景深显微镜的原理是:通过成像系统在z轴扫描、CCD成像,捕捉样品上每个进入焦点的不同区域的图像,再利用3D合成重建算法,获得高分辨率,大景深的全幅对焦的三维图像。对于面积大的样品,可进行图像2D拼接和3D拼接,这样就能在显示器上清晰观察到放大的样 ...
LED照明的闪烁测量1. 简要说明固态照明 (SSL) 的广泛引入要求比磁镇流器荧光灯等上一代技术更彻底地考虑光闪烁的影响。原则上,LED 的光输出跟随电流;然而,交流主电源必须传输到 LED 本身所需的直流信号。因此,需要 LED 的电子驱动电路以及外部控制器和调光器,除了任何电源波动和瞬变的影响外,还可以在光输出中轻松引入调制。许多 LED 驱动器使用脉宽调制 (PWM) 进行调光控制,该调光采用具有不同占空比的单频高调制。除了交流电源频率引起的典型低频振荡外,这些电子电路还可以包含高频元件。光源光输出随时间的变化通俗地称为“闪烁”,可能对观察者产生视觉和非视觉的有害影响。根据CIE TN ...
TiePie 示波器多应用介绍——电、热、力、通讯信号探测一、电阻与接触测量使用万用表测电阻,只能测出某一瞬间值,有很多场景下静态的测量很难得到正确的数据,需要进行连续测量,例如:电位器在某个位置突然断路,插头在振动下间歇性断路,线束在弯折过程中接触时断时续,热敏电阻在温度变化过程中的阻值跳变。TiePie无线示波器可以持续的测量电阻,并绘制时间-阻值曲线。操作也非常简单,只需用测量线先短接做一次基准测量,在 Gain / Offset 模块里用 Neutralize 把线阻抵消掉,然后就可以开始测量,实现边操作被测件、边观察电阻波形。对连接器做振动或温度循环试验时,接触电阻是否在某个工况下突 ...
Moku:Delta开放样机试用!助力加速半导体器件测试验证流程半导体技术飞速发展,IC测试与验证的复杂性不断增加。如今被测设备(DUT)涉及模拟、数字和混合信号领域,高度集成 ADC/DAC、运放、控制环路和 DSP 等,使测试任务在精度、时序控制和功能覆盖上变得更加复杂且要求更高。因此,传统测试系统的配置不断扩大,包含示波器、波形发生器、频谱分析仪、频率响应分析仪、逻辑分析仪等多个仪器,这些设备通常来自不同供应商,自动化程度和配置要求差异较大,工程师需要额外编写程序并通过电缆连接它们。虽然这种传统的分立式测试方案能够满足当前的测试需求,但也意味着需要投入大量配置时间、维护校准精力和经济成本 ...
为高功率CO₂激光器应用选择合适的调制器——AOM VS EOM在快速发展的微电子制造领域,对过孔钻孔的更高生产效率和精度的需求从未如此之大。这转化为市场对更复杂制造工具的需求,例如高精度声光调制器(AOM)和电光调制器(EOM)。在这两种类别之间的选择完全取决于应用以及对您系统而言关键的性能参数。Gooch & Housego(下文中简称G&H)是AOM和EOM解决方案的供应商,确保客户能为他们的高功率CO₂激光器应用选择z佳技术,无论是使用EOM进行强力切割和钻孔,还是使用AOM进行高速、精密钻孔。了解过孔钻孔过孔钻孔是印刷电路板(PCB)制造中的一个关键工艺,通过在板上创 ...
影响基于CCD相机激光光束宽度精确测量的因素(一)1.引言在激光器制造、激光微纳加工等领域,从业人员对于激光的空域参数非常关注,常见的参数有光束宽度、发散角、强度分布和光束质量等,光束宽度是其中重要的参量之一,也是计算发散角和光束质量的基础。基于CCD相机的激光光束宽度测量技术近年来也发展迅速,需求量也日益增加,该方法具有空间分辨率高,光谱覆盖范围广,算法灵活和适用于脉冲激光等优点。当然,CCD相机本身对光束的测量也存在一定的影响,比如CCD一般能够接收的光强大约在纳瓦量级,这导致芯片本身的噪声和环境光都会对测量造成干扰。因此,抑制或者减小噪声技术的发展将直接影响到测量的准确性,除此之外包括空 ...
光学频率梳:光学测量与通信的革命性工具光学频率梳(Optical Frequency Comb,OFC)是一种能够产生一系列等间隔光频的激光光源,类似于梳子的齿状结构,因此得名。图1 光学频率梳在时域与频域的示意图2005年,约翰·霍尔(John L. Hall)和西奥多·亨施(Theodor W. Hänsch)因在光学频率梳技术方面的突破性贡献而获得诺贝尔物理学奖。霍尔和亨施的工作主要集中在精确测量和控制光频率方面。他们通过开发稳定的飞秒激光技术和精密频率控制方法,使得光学频率梳成为可能,从而大幅度提高了频率测量的精度。这项技术极大地推动了精密光谱学、时间和频率标准、光通信等领域的发展。本 ...
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