偿大气引入的像差。Babcock 的开创性论述中所提出的光学校正器叫做“Ediophor”,设想用一层薄的反射层覆盖在一层油膜上面,然后在油膜上面施加电荷,静电力使油膜根据电荷的空间分布产生相应的厚度变化,从而对入射的光线产生光程调制,这就是变形镜的原型,如图1。图1 巴布科克提出的变形镜原理但在当时的技术条件下没能真正实现这样的结构。之后随着激光技术的发明和应用以及军事研究的刺激,变形镜的技术得以迅速发展,这也直接推动了自适应光学技术的发展。在美国军方合同的支持下,Itek 公司的J.W.Hardy 等人于1974年发明了整体式压电驱动变形镜用于空间目标观测系统。1984年,Itek 公司与 ...
的静态和动态像差,使激光谐振腔保持正确的谐振条件,改善激光的光强和相位分布,提高输出功率;腔外自适应光学技术是将波前校正器置于激光谐振腔外,利用波前补偿的原理改善激光器输出光束的相位分布,以达到提高远场能量集中度的目的。腔内自适应光学校正相对来说技术更为复杂,因为激光腔内模式的产生过程本身就很复杂,需要进行数值仿真来迭代分析。早在1980年代,就有一系列的针对非稳腔CO2 激光器进行校正的理论分析和实验结果,但实验结果表明,很难取得良好的校正效果而往往只能校正少量的人工引入的误差。90 年代以后,俄罗斯科研人员针对Nd:YAG 激光在开展校正工作,Cherezova 等的论文总结了他们的研究结 ...
学系统的波前像差检测,虹膜定位像差引导,大口径高精度光学元器件检测,平行光管/望远镜系统的检测与装调,红外、近红外探测,激光光束性能、波前像差、M^2、强度的检测,高精密光学元器件表面质量的检测等领域发挥着越来越重要的作用。法国PHASICS公司研发团队,突破传统技术的壁垒,成功研发出了世界上分辨率最高的四波剪切干涉技术波前探测器。本文简单介绍了波前传感器的原理和典型应用,以及四波剪切干涉技术原理,比较了剪切干涉技术的波前分析仪与传统哈特曼传感器的特点。引 言:波前传感器(Wave Front Sensor),按照其技术发展的历史可以分为三个阶段:第一阶段,1900年德国科学家哈特曼采用挖孔的 ...
被广泛的用于像差校正,体积成像和可编程神经元激发。 其中液晶空间光调制器(SLM)是高分辨率的相位调制器,能够创建复杂的相位图,以在三维(3D)体积内可实现任意的光束偏转,可实现三维(3D)体积重塑。 Meadowlark Optics(MLO)公司最新的SLM将面填充率从83.4%提高到96%,并将分辨率从512 x 512像素提高到1920 x 1152像素,同时在1064 nm处达到300 Hz的液晶响应时间(0-2π)和845Hz的帧频,可覆盖波段:850-1650nm。 本文总结了MeadowlarkOptics公司新的SLM的功能,以及SLM在双光子及三光子显微微镜成像应用中的优势 ...
光学元件存在像差之外,更重要的原因是光波存在衍射效应,使得一个理想无限小的点物体发射的光波通过系统成像后,由于成像系统口径有限,物体光的高频成分被阻挡,最终参与成像的只有物体光波的低频成分(因此传统成像系统本质上相当于一个低通滤波器),使得最终的像不再是一个无限小的理想点,而成为了一个弥散的亮斑,称为“艾里斑”。因此当两个点物体距离较近时,它们通过成像系统后形成的两个艾里斑就会重叠到一起无法分辨,两个物点恰能分辨的距离就是极限分辨距离,对应的张角即为极限分辨角,这就是著名的“瑞利判据”。科学家发现,通常情况下该极限分辨率与光的波长(λ)、成像系统口径(D)和数值孔径(NA)等参数有关。瑞利判据 ...
点的PSF的像差敏感。为了确保在大体积上的一致激发,校正显微镜中SLM和其余光学元件的像差是很重要的。 许多用于表征和校正像差的算法都基于Zernike多项式。然而,对圆形孔径的依赖不适用于描述正方形或矩形阵列的像差。已经开发了基于SLM的干涉子孔径的替代策略[9],以确保SLM的有效区域上的像差可以被校正到λ/ 40或更好。如图7所示,由于使用了制造工艺,MLO SLM的本身的波前像差很低。(a)原始的1920 x 1152像素SLM波前(λ/ 7 RMS)(b)应用了像差校正的波前(λ/ 20 RMS)(c)未应用校正的像差曲面图。(d)应用校正后的像差曲面图。5. 计算全息算法优化美 ...
里手动输入各像差参数,如piston,Tiltx,Tilty, power, Astigx, Astigy, Comax ,Comay等和半径,中心位置。Zernike多项式八、叠加功能叠加功能可以把2张相位图叠加在一起,有时候是非常有用的,例如把5X5点阵叠加上一个闪耀光栅,就可以让点阵偏离中心位置消除了0级光斑的影响;如下图所示。您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。 ...
应用于考察波像差影响因素的场合,如大气光学和自适应光学领域;实际光束的S一般小于1,S越接近1,则光束质量越好。值得注意的是,斯特列尔比S 无法给出能量应用型系统所关注的空间光强分布信息。另外斯特列尔比S只能反映光束质量的优劣,对光学系统设计和优化缺乏足够的指导能力。4.光束传播因子M最常用的光束质量评价标准,被国际光学组织和国际标准组织ISO认证的评价参数。光束传播因子M 定义为光束空间束宽积ωθ与理想光束空间束宽积ω θ 之间的比值,公式为M =ωθ/ω θ 。M 因子同时考虑了束宽和远场发散角的变化对激光光束质量的影响。通常,激光光束在经过理想的光学系统时,空间光束束宽积是不变量,避免了 ...
多项式来表示像差,每一个小图标代表一种像差。单位是um, Reset按钮可以设置DM为一个平面。8 .LOOP CONTROL 该界面可以执行校正及开始或停止Loop功能;在执行校正(calibrate)该变型镜后,可以在开环条件下从DM modes里设置参数控制DM面型,在闭环情况下可以从Loop Mode Target里控制面型。Show Calib. Res按钮显示校正的信息。时间轴显示的是设置波前与实际探测到的波前间的差值,从Time span里修改显示时间长度。9. LOOP Mode Target 该界面只能用于闭环情况下设定目标波前,然后ACE软件会控制变形镜达到设定值;每个小图 ...
候,都会产生像差。在效率方面,当反射表面是干净且没有缺陷的时候,棱镜内表面全反射的效率是100%,当然还存在棱镜入射面和出射面上玻璃-空气交界处的菲涅尔损耗,但是可以通过在棱镜入射面和出射面上镀增透膜来减少这一部分损耗。棱镜相比于反射镜还要一点好处,当整个系统处于一个给定的均匀的温度变化环境之中时,整个棱镜会整体地扩张或者缩小,对于整个光学系统来产生的影响较小,而当使用反射镜的时候,由于反射镜和固定反射镜装置由不同的金属制成,所以会对温度有不同的响应,从而相比棱镜,对整个系统产生更多更差的影响。您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。 ...
1920x1200纯相位液晶空间光调制器美国Meadowlark Optics(MLO)公司一直致力于高性能液晶空间光调制器的研发生产,E19x12系列向列相液晶空间光调制器(SLM)采用独特的模拟寻址方式,具有很好的相位稳定性。通过改变芯片背板设计,实现更高的光能利用效率,在科研领域有着广泛应用。纯相位SLM利用液晶的双折射原理,能够实时对光的相位进行调制。E19x12系列液晶空间光调制器(LC_SLM),较同类产品,具有明显性能优势。产品特点:分辨率:1920 x 1200 (2,304,000 active pixels)像元尺寸: 8.0 x 8.0 μm零级衍射效率:80-91%(M
1920x1152可见光波段高分辨率纯相位液晶空间光调制器 美国MeadowlarkOptics公司的P1920-400-800-HDMI系列空间光调制器(SLM)采用模拟寻址方式,具有好的相位稳定性,在光学领域有着广泛的应用,现已在科研实验室广泛使用。纯相位SLM利用液晶的双折射原理,能够实时对光的相位及振幅进行调制。1920x1152高分辨率液晶空间光调制器(LC_SLM)具有分辨率高、大面阵(17.7x10.6 mm)、高填充因子(95.7%)、高衍射效率、相位调制稳定性好(≤0.5%)等特点。产品指标参数:应用领域:SLM应用于激光通信、全息光镊、光遗传学、神经学、显微镜、脉冲整
测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器,SID4覆盖可见光和近红外范围,是适用于各种激光或光学计量应用的完美多功能工具。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量
1920 x 1152高分辨率液晶空间光调制器!1920 x 1152高速纯相位液晶空间光调制器(845Hz帧频)! 1920x1152高分辨率液晶空间光调制器(LC_SLM)是美国Meadowlark Optics公司2016年新推出的一款产品。该款纯相位液晶空间光调制器(SLM)具有分辨率高、大面阵(17.7x10.6 mm)、高填充因子(95.7%)、高衍射效率、高刷新速率(845Hz)、相位调制稳定性好(<1%)等特点。 空间光调制器、纯相位空间光调制器、SLM、液晶空间光调制器、反射式空间光调制器、空间光调制器价格、调制器、相位调制器 液晶空间光调制器的英文名称是Spatial
测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-HR为要求苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率(400 x 300)和高动态范围(500 µm PV)。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束,而无需添加任何中继镜或准直光学系统。【
进口纯相位液晶空间光调制器美国MeadowlarkOptics公司在液晶空间光调制器制作领域有超过30年的历史,其空间光调制器的模拟寻址技术发达。为满足越来越多的客户对高相位稳定性,高相位精度的纯相位液晶空间光调制器的需求,美国MeadowlarkOptics(原BNS)公司推出了一款空间光调制器美国MeadowlarkOptics公司推出这款高性价比的纯相位模拟寻址SLM,旨在希望让更多的经费预算有限的用户在实验中也能有机会采用高品质的纯相位液晶空间光调制器。该系列空间光调制器具有0.2%以内的超低相位纹波,16bits/65536的相位调制精度,λ/12高波前平整度,5W/cm2高损伤阈值
XY系列偏振无关液晶空间光调制器--可定制一款偏振无关的纯相位空间光调制器。光能利用效率加倍,工作波长可达1550nm。创新性的LCoS SLM!XY向列型偏振无关空间光调制器美国BNS公司新近推出一款偏振无关的空间光调制器,该产品使用硅基液晶技术,可以用于多个领域,作为基本组件,例如:光纤通信网络,加强型显微成像和高分辨率自适应光学系统。目前,BNS开发的这款产品已经商业化,具有高分辨率,偏振不相关,纯相位调制等特点。这款仪器的独特之处在于克服了使用现有的LCoS和MEMS原理的技术限制和障碍,开启一片新应用领域。偏振无关LCoS vs. 标准LCoS来自通信光纤的光的偏振状态会由于温度或者
、高频率波前像差及表面缺陷检测等)和光学组件的表征(镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等)。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器搭载高性能相机,也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512(可选高至666 x 666)相位取样分辨率使SID4-UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。一、SID4-UHR波前传感器主要特点l超高分辨率 512 x 512l超大靶面分析尺寸: 15 x 15
测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。SID4-UV波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-UV波前分析仪作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器,SID4-UV波前分析仪非常适合于紫外光学测量,包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征,以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Pha
使扫描区域内像差达到衍射极限,适用于从微加工及大面积激光加工,是激光精细打标、微加工、激光焊接、激光切割等应用的选择!日本吉奥马公司YAG激光场镜((f-theta lens))日本市场占有率达到50%以上!日本吉奥马(GEOMATEC)公司是一家光学器件制造商。该公司致力于提供平板显示屏、光学薄膜、激光元器件等产品与服务。YAG激光场镜产品特点: 追求扫描区域内各点尺寸的衍射极限; 借助日本吉奥马公司多年的镀膜技术,该产品采用了高性能,高耐久的电介质多层膜; 体积小、重量轻、性价比高; 加工面侧(焦点面侧)、不需要专用工具就能简单拆装更换; 配置镀有HPL-AR膜的保护过滤器; 安装于系统上
测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器,SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量,包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征,以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传
测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-SWIR波前传感器将Phasics的四波剪切技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其高取样分辨率(80 x 64相位取样点)和高灵敏度,它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。【关于Phasic
测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;SID4-SWIR-HR波前传感器结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-SWIR-HR波前传感器将Phasics的四波剪切技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率(160 x 128相位取样点)和高灵敏度,它提供了从900 nm到1.7
多个波长偏振像差的组合通常会大大降低偏振的纯度。因此传统的克尔显微镜经常报道磁光克尔对比度几乎观察不到。一个主要的原因就是因为使用宽谱的照明光源。因为磁光效应引起的克尔旋转量与光源波长数量成反比,宽谱光源会产生相同宽谱的线偏振,也就是说,光偏振不是完美的线性,观察到的磁对比度也会降低。因此为了克服由于光源带来的相差,我们经过多组测试,选取了FWHM为50nm的超亮LED光源,可获得很强的对比度,并且拥有较高的使用寿命。2)图像自动校正功能通常为了获得较弱磁性材料的对比度,市面上磁畴观察设备通常会采用图像差分处理来获得较高对比度,即使用拍摄到的图像减去背底图片。该方法通常可以将信号增强10倍以上
测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器,专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其
1024x1024高速纯振幅液晶空间光调制器 高分辨率、高效率、高对比度纯振幅液晶空间光调制器! 美国Meadowlark Optics公司的模拟寻址纯振幅液晶空间光调制器是二维可编程的光学器件,可以对入射光进行单像素纯振幅的调制,振幅调制精度可达256阶!该系列纯振幅SLM采用扭曲液晶(Twisted LC),具有对比度高(750:1),分辨率高(1024x1024),填充率高(97.2%),响应速度(1436Hz帧频),衍射效率高,控制分辨精度高(可分辨256阶)等特点。 Meadowlark Optics公司可提供基于LCOS(liquid crystal on silicon)技术的模
波长下的波前像差。 即使在待测镜头拥有高主光线角(CRA)和大视场角(FOV)下,Kaleo MTF测量仪仍可保持高测量精度。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。一、 KALEO MTF主要特点兼容大视场角及高主入射角镜头MTF与波前像差的实时测量显示共轴离轴测量无限远-有限远光学系统二、KALEO MTF应用光学元件及光学系统计量三、KALEO MTF测量结果同轴和离轴 MTF通过焦点MTF透射波前误差泽尼克多项式镜头参数:EFL、f#镜头出瞳中的 O
测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;SID4-DWIR波前传感器结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。SID4-DWIR波前传感器是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-DWIR波前传感器是市面上一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件,黑体光源,3.
,包括:波前像差,MTF,PSF等。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。一、 KALEO 多波长激光干涉仪模块主要特点多功能性:覆盖从紫外到红外多个波段的独立解决方案及兼容模块强大独特的波前技术:兼顾高分辨率、高动态范围及纳米级相位灵敏度操作简易:系统紧凑且便于快速对准 非准直光入射 消色差二、KALEO 多波长激光干
择器复用波前像差低应用三维光束转向在快速开关中进行角度放大透射光谱,进行角度选择光束组合光束成形和过滤光束取样
或 投递简历至: hr@auniontech.com