中文：光阑；英文：stop / aperture

，引起渐晕的光阑叫做渐晕光阑。一般用渐晕系数K来描述光束渐晕的程度，有两种表示方式，即面渐晕系数与线渐晕系数，分别定义如下：面渐晕系数：轴外物点能通过光学系统的成像光束在入（出）瞳面上的截面积与入（出）瞳面积之比。线渐晕系数：轴外物点能通过光学系统成像的子午光束在入（出）瞳面上的线度与入（出）瞳直径比。渐晕系数K=1表示无渐晕，K=0表示极限情况，可以得到极限视场。容易得出，光孔离孔阑越远，越容易引起渐晕。由于每个光孔都有一定大小，所以在没有视场光阑的系统中，一定存在渐晕光阑，在这种情况下，由渐晕光阑限制视场的大小；而在有视场光阑的系统中，也可能存在渐晕光阑。如果把远离孔阑的透镜直径取的太大时 ...

曼采用挖孔的光阑技术制作完成了世界上第一个可以用于检测波前的传感器。第二阶段，1971年R.K.Shack采用为透镜阵列研发成功了精度更高的夏克-哈特曼波前分析仪。2000年法国Phasics研发团队采用四波剪切干涉技术成功研发了基于四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry），该波前探测器具有高分辨率（400X300）、高动态范围（500 um）、消色差、高灵敏度、高相对精度（2nm RMS）、无需校正、体积小、操作简便等特点。上海昊量光电设备有限公司代理的法国phasics波前相差仪可以实时测量成像系统瞳面波前误差，然后将这些测量数据 ...

D1、D2为光阑，SLM为纯相位空间光调制器的液晶反射面板，测试用激光波长为780nm。华东师范大学研究人员利用此方法制得的光波导截面和侧面结构图如下所示，且对所制得的光波导功能测试显示此方法可行。昊量光电独家代理多种纯相位型空间光调制器，欢迎您的咨询。 ...

统焦距为f,光阑直径为D,理想情况下的均匀平面波聚焦后,聚焦光斑（艾里斑）半径为ωf=1.22λf/D，而远场发散角θ=ωf/f。激光远场发散角θ表明了激光不显著发散开来可传播的距离，与聚焦能量有关，是常用的光束质量判据。2.光束质量因子β光束质量因子β（又称为衍射极限倍数因子）是使用较为广泛的一种激光光束质量评价指标，其定义为实际光束远场发散角θ（上文中的远场发散角）与理想光束远场发散θ角之间的比值，即β=θ/θ 。实际光束的β值一般均大于1，β数值越小，光束质量越高（类似于M ）。但是运用β评定光束质量时需要忽略不计测量系统造成的衍射影响，β因子必须与测量光学系统的参数无关，此时它是衡量激 ...

次谐波可通过光阑并被探测器接收，而基频光则被挡在探测器靶面外。与共线型相比，该方法可以消除信号光中的背景光，能提供更高的测量精度，因此是目前使用更加广泛的检测机制。昊量光电提供各种通用型及及针对各类应用专用型自相关一。您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。 ...

设置在球心处光阑移动对球差没影响，但对像散和慧差有影响，但当球差为零时，慧差与光阑的位置无关。使用光束分析仪可以在成像位置观察到光斑的形状，观察其是否有彗星状拖尾的像差来判断其是否存在较大的慧差。如果使用定量的方法来计算慧差的大小，慧差和光束的口径的平方成比例，所以对于目镜来说，其光束口径较小，所以慧差也不会太大。您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。 ...

向补偿2. 光阑位置光阑在整个系统前以及后都会引入较大畸变，如手机镜头的视场光阑一般位于第一个面3. 减小视场缩小市场可以有效减少大视场所带来的畸变您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。 ...

光轴上一点到光阑边缘的光线与光轴的夹角。由于数值孔径的定义中考虑了折射率的因素，因此一束光在通过平面由一种介质进入另一种时，数值孔径仍是一个常量。在空气中，透镜的孔径角大小近似等于数值孔径的两倍（在近轴近似的条件下）。数值孔径是相对于物或像上的特定一点而言的，因此其大小也会随着该点的移动而改变。在显微学领域，如不特加注明，数值孔径一般是针对物一侧而言的。2.焦深物镜的焦深为物镜对表面较为不平的样品仍能够清晰成像能力的参数，当物镜准确聚焦于某一样品表面时，如果位于该表面前面及后面的物面仍然能被观察清晰，则该两前后平面间的距离就是焦深。物镜的焦深主要取决于物镜的数值孔径，数值孔径越大，焦深越小。在 ...

时，需要采用光阑来限制光束的大小。第二，被测样品楔形角的影响。为减小该因素的影响，可以使光束尽量准直，并且尽量采用大口径的积分球探测器。第三，光线偏振效应。尽量让样品垂直放置，并且加上偏振测试装置。第四，光谱仪的光谱分辨率。选择合适的分辨率，滤光片要求较高的分辨率。第五，空气中某些充分吸收带的影响。比如空气中的二氧化碳吸收，解决措施是样品室里面充氮气。第六，被测样品后表面的影响。测试透过率时不可避免引入后表面的影响，需要通过计算消除这种影响。3.光学相干检测技术由于激光的相干技术测量的尺度通常与激光波长相当，当前被广泛运用于精密测量技术，其中自混合干涉技术（SMI）技术正在被广泛运用于传感器领 ...

p，它随孔径光阑位置而变。因此，当系统的球差已定而不满足等晕条件时,一定可以找到一个光阑位置使系统的正弦差为零。挑选光阑位置来校正某一种与其有关的像差是光学设计时常用手段。相关文献：《几何光学 像差 光学设计》（第三版）——李晓彤 岑兆丰您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。 ...