折射率引导型光子晶体光纤的结构类型与机理前言：光子晶体光纤（Photonic Crystal Fiber，PCF）的概念。与普通光纤是由包层与纤芯两种介质组成向类比，光子晶体光纤通常是由单一介质构成的，其包层周期性地规则对称分布着具有波长量级的空气孔阵列，包层外为涂覆层。因此，也可以称其为“多孔光纤”（HoleyFiber）或“微结构光纤”（MicrostructureFiber）。光纤的中心，即被空气孔阵列包层包围的纤芯部位，可以视为周期结构阵列中存在的“缺陷”。光子晶体光纤的微结构特性主要由三个参量决定，即空气孔的直径d，相邻两孔之间的距离Δ，以及纤芯的直径D。光子晶体光纤的这种微结构特定 ...
轴经历不同的折射率。双折射也可以引入外部或残余应力在大块材料。在非常短的波长(即157 nm)， CaF2显示应力诱导双折射和更强的内禀双折射(也称为空间色散双折射)。CaF2中的双折射为高性能的印刷应用带来了性能问题。双折射的传统测量方法是让光束穿过放置在交叉偏振器之间的样品。光强通常在样品旋转360°时检测。双折射的大小与较大信号(快轴与偏振器轴为45°)和较小信号(快轴与偏振器轴平行或垂直)的差值有关。该方法有测量时间长、精度低等缺点。每个采样点都要旋转一个样品，这使得双折射映射不切实际光弹性调制器(PEM)技术为交叉偏振器技术提供了更好的选择。PEM在高频率(名义上为50千赫)调制入射 ...
显然，材料的折射率n可以通过测量反射率R来决定。实际情況下，折射率n随波长变化（就是说，材料会发生色散）。但是因为已经知道很多波长的反射率，在这些波长下的折射率n就可以推算出来，如上面的公式所示。多层界面现在考虑涂在材料上的一层薄膜。这种情形下，薄膜的顶部和底部都会反射光。总反射光量是这两部分反射光的叠加。因为光的波动性，这两部分反射光可能干涉相长（强度相加）或干涉相消（强度相减)，这取决于它们的相位关系。而相位关系取决于这两部分反射光的光程差，光程差又是由薄膜厚度，光学常数，和光波长决定的。当薄膜内光程等于光波长的整数倍时，两组反射光相位相同，因而干涉相长。当光重直人射到透明薄膜时就是这种情 ...
膜厚测量原理（三）-通过光谱反射确定薄膜特性薄膜反射率的振幅和周期取决于薄膜厚度，光学常数，和界面粗糙度等其它特性。在多于一个界面的情况下，薄膜的光学特性不可能以解析解的形式来算出来，也不可能在每个波长下描述n和k值。实际应用中，一定波长范围内的n和k由数学模型根据几个可调节参数模拟得出。薄膜特性通过计算厚度实验值及n与k模型参数的反射光谱来确定，不断调整这些数据，直到计算反射率和测量反射率相匹配。n和K的建模有许多数学模型描述波长的函数n和k。为某种薄膜选择模型时，在准确描述相关波长范围n和k的情况下，变量越少越好。一般来讲，不同材料（如：电介质，半导体，金属和非金属）的光学常数随波长有很大 ...
膜厚测量原理（四）-膜厚测量的方法可变量的个数，光谱反射法的局限光谱反射法可以测量多种类型薄膜的厚度，粗糙度和光学常数。但是，如果只有不到一个周期的反射率振荡（如：薄膜太薄），那么就不会产生足够的信息来确定模型的可变量。这样，对于非常薄的薄膜，可确定的薄膜特性的数量就会减少。如果试图解决太多的变量，不可能找到唯①的解答；这种情况下待求变量的多种组合都可能使得反射率计算值与测量值匹配。取决于薄膜和测量的波长范围，光谱反射法测量的单层薄膜的较小厚度为1纳米到30纳米。如果还要测量光学常数，除非使用较少变量模型，可测较小厚度增加为10纳米到200纳米。如果测量超过一层的薄膜的光学特性，较小厚度将进一 ...
键。传统阶跃折射率型单模光纤在其中心具有较高的折射率，包层材料具有较低的折射率，以便通过全内反射的机理传输光波电磁场，其导模的有效折射率介于芯层中心折射率和包层折射率之间。科学家们不断地对光纤进行探索，经过不懈努力发现了光纤中新的导光机理，新型的空芯光纤不再局限于传统的内反射原理，其光纤的纤芯折射率可以低于包层折射率，低折射率纤芯的光纤也可以传输光波电磁场科学家们发明并提出多种新型特种光纤，如微结构光纤，多空光纤，反谐振光纤等。这些新型的特种光纤不仅在长距离传输上有着良好的优势，并且在生物传感、气体传感等应用上有着很好的性能。图1.光纤设计结构示意图1999年，P.St.J.Russell在《 ...
表面粗糙度、折射率等参数的高精度测量。点衍射干涉仪不需要标准参考件，可以用于高精度面型的检测，是一种非常重要的高精度测量仪器。1.1测试光路测试系统主要由D7点衍射干涉仪主机，准直器，5mm口径铝镜，光学平台等构成。1.2 测试环境温度：21℃±1℃；湿度：30%-70%1.3 绝对精度检测（Accuracy）绝对精度的检测采用波前均方根差（wavefront RMS differential ，WRMSD）的计算方法，WRMSD是干涉仪稳定性和测量有效性的严格标准。它定义为所有测量波前差异的均方差加上2X均方差的测量集，并定义为所有测量波前的平均值的综合参考。测试步骤：1）测试部分从0°开始 ...
加工和装调；折射率的变化应能保证挑选到相应的玻璃等，称为变量边界条件。变量边界条件除应考虑工艺条件和材料的可能性，还要考虑到程序处理的方便和不致引起收敛过程的波动。对于各类变量可作如下的限制：曲率半径一般不需给以限制(因为自动设计中为了确保像差的良好校正，并不会导致半径的极度变小）；透镜的厚度应严格限制下限(可令d≥0.1D,D为透镜口径）,为了防止透镜过厚，对上限也可适当提出限制；透镜的空气间隔只需限制下限；透镜的折射率可限制在 1.48～1.85 范围，并将其分段，以便能与色散或阿贝数相适应。第二类边界条件是以结构参数为自变量的函数的边界条件，是对结构参数函数的限制，包括正透镜的边缘厚度、 ...
;所在空间的折射率。相关文献：《几何光学 像差 光学设计》（第三版）——李晓彤 岑兆丰更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。 ...
地测量厚度、折射率及消光系数。只要将Semiconsoft 系统插入您电脑的USB接口，就能开始测量。整个系统只需要几分钟来设定，只需要基本的电脑知识就能测量。这种简单的硬件系统和直观的软件为所有新用户提供了薄膜知识。从近红外到紫外 系统能在波长200纳米到1700纳米 范围内测量厚度从1纳米到1.8毫米的薄膜。Semiconsoft 系统可测量几乎所有常用材料做成的透光薄膜。容易操作的软件用户能很快地掌握Semiconsoft软件熟悉而又友好的界面。测量一次大约一秒。测量数据，及测量细节能够非常容易地通过标准Windows文件存盘和输出。另外，公开的 NET 程序非常 容易地让其他软件来控制 ...
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