Moku:Delta开放样机试用！助力加速半导体器件测试验证流程半导体技术飞速发展，IC测试与验证的复杂性不断增加。如今被测设备（DUT）涉及模拟、数字和混合信号领域，高度集成 ADC/DAC、运放、控制环路和 DSP 等，使测试任务在精度、时序控制和功能覆盖上变得更加复杂且要求更高。因此，传统测试系统的配置不断扩大，包含示波器、波形发生器、频谱分析仪、频率响应分析仪、逻辑分析仪等多个仪器，这些设备通常来自不同供应商，自动化程度和配置要求差异较大，工程师需要额外编写程序并通过电缆连接它们。虽然这种传统的分立式测试方案能够满足当前的测试需求，但也意味着需要投入大量配置时间、维护校准精力和经济成本 ...
基于空间ALD和激光加工的颜色生成新方法摘要：在本文中，我们介绍表征SiN集成组件的实验设置的结构和设计，简述了可见光到近红外光谱区的SiN集成光子元件中的应用。空间ALD（原子层沉积）是一种薄膜沉积技术，可以在原子水平上精确控制材料沉积。与传统ALD在整个衬底上沉积均匀薄膜不同，空间ALD允许在特定的空间模式下选择性沉积。这种前所未有的控制水平为创造复杂的颜色图案和结构开辟了新的可能性。激光加工技术可以在微纳米尺度上精确控制材料的改性。通过将空间ALD与激光加工相结合，研究人员可以更好地控制制造材料的光学特性和结构特性。ALD和激光加工之间的这种协同作用使创建高度定制的着色效果成为可能。关于 ...
超导纳米线光子数分辨探测器：开启量子通信与传感的新纪元近年来，随着量子通信、激光雷达（LiDAR）和单光子成像等技术的飞速发展，对高性能单光子探测器的需求日益迫切。特别是在光子数分辨（Photon-Number-Resolving, PNR）能力方面，传统单光子探测器存在明显短板。文中提出并验证了一种基于并行超导纳米线结构的光子数分辨探测器，为高灵敏度、高速度、低噪声的单光子探测提供了全新解决方案。一、从“有无”到“多少”：光子数分辨的技术挑战与意义传统单光子探测器（如SPAD）仅能判断“是否有光子到达”，无法区分光子数量。这在高动态范围、高背景噪声或量子态重构等应用中成为关键瓶颈。光子数分辨 ...
时间门控单光子SPAD阵列与非视域成像中的关键散射特性研究非视域成像，旨在实现对视线之外隐藏物体的探测与重构，是近年来光电探测领域的前沿焦点。这项技术借助于一个中介面（如墙壁、地面），通过捕获从隐藏目标反射并再次经由中介面散射回来的微弱光信号，来“绕弯”看清拐角后的景物。在众多技术路径中，基于时间门控单光子SPAD（单光子雪崩二极管）阵列的成像方法，因其具有凝视成像、高时间分辨率、设备集成度高等优势，被视为走向实用化的关键技术之一。图1：基于 TG-SPAD 阵列的非视域成像原理示意图一、 技术核心：为何要研究中介面的散射特性？在非视域成像系统中，中介面并非理想的镜子。当光子携带隐藏目标的信息 ...
预认证，即速度：选Lumencor合规光引擎，为您的医疗设备上市按下快进键美国Lumencor 是首家将 300 和 400W 氙灯替换为用于微创机器人手术的固态光源的供应商。如今，他们为包括神经外科、胃肠外科和内窥镜检查等应用提供定制工程化的白光和多通道的光（Lumencor 的 AURA 和 SPECTRA 光引擎）。特点：提供的固态光源，包括发光二极管、激光器和专有的光导管提供所需显色指数（CRI）、色温（CT）的白光光源紫外光、可见光和/或近红外光约 20W近红外激发用于增强血管可视化和经 FDA 批准的荧光物质定制控制光的角分布Lumencor 光引擎经过优化，可实现可视化、精确测量 ...
方阻（电涡流检测）在半导体行业中的应用1. 原理介绍1.1 电磁感应定律的工程应用涡流测试基于法拉第电磁感应定律的精确数学表达：在导体内部，电场强度与电流密度关系为：该方程的解给出趋肤深度公式：薄层近似理论当满足条件（t为膜厚）时，可建立方阻与阻抗的直接关联：其中：：空载线圈阻抗( K(k) )：第1类完全椭圆积分( k )：线圈几何参数比1.2 使用涡流测试进行质量保证涡流测试方法利用局部电导率变化来表征质量特性，例如厚度、片材电阻、材料均匀性或研究样品中的其他物理变化。复杂的涡流信号包含有关测试材料的各种信息，在许多情况下可以用简单或复杂的算法进行分离。应用的强大涡流电子设备提供从 10 ...
LED照明的闪烁测量1. 简要说明固态照明 （SSL） 的广泛引入要求比磁镇流器荧光灯等上一代技术更彻底地考虑光闪烁的影响。原则上，LED 的光输出跟随电流;然而，交流主电源必须传输到 LED 本身所需的直流信号。因此，需要 LED 的电子驱动电路以及外部控制器和调光器，除了任何电源波动和瞬变的影响外，还可以在光输出中轻松引入调制。许多 LED 驱动器使用脉宽调制 （PWM） 进行调光控制，该调光采用具有不同占空比的单频高调制。除了交流电源频率引起的典型低频振荡外，这些电子电路还可以包含高频元件。光源光输出随时间的变化通俗地称为“闪烁”，可能对观察者产生视觉和非视觉的有害影响。根据CIE TN ...
量子金刚石显微镜在半导体失效分析中的应用1.介绍随着异构集成（HI）和封装技术日益普及，以实现性能提升的新一代目标，传统的电气故障分析（EFA）技术在应对行业新兴趋势（如晶圆间、芯片间键合、硅通孔以及背面电源供应的复杂性）时面临日益严峻的挑战。由于互连对器件的性能提升至关重要，确保其电气完整性对于提升产量和保持高良率至关重要。然而，许多传统EFA技术难以应对弱信号、多金属化层和堆叠芯片等问题。此外，氮化镓和碳化硅等宽带隙材料的广泛应用导致当前EFA面临更多复杂性。迫切需要开发新方法，能够定位深埋于表面之下且被复杂金属化层包围的故障，同时具备三维信息、高分辨率和短测量时间。解决这些问题的新兴EF ...
应用探究|超越鬼成像（二）：基于PPLN单晶体折返“无探测”量子成像在上篇文章《应用探究|量子成像技术探秘（一）：基于PPKTP晶体的未探测光子成像QIUP技术》中，我们分享了传统QIUP技术。而在此基础上，一种基于单非线性晶体的折返光路设计也逐渐流行。来自伦敦帝国理工学院物理系的布莱克特实验室分享了一种基于单块PPLN晶体的紧凑型、低成本化的QIUP。在本文中，来自英国Covesion公司的10mm长PPLN晶体（MOPO515-0.5）作为波长转换的关键。泵浦光（532nm）首先 进入PPLN晶体，发生第1次非简并SPDC，产生了纠缠的信号光子（例如808nm）以及闲频光子（例如1559n ...
基于Moku的功率器件动态参数测试系统：精准、高效、经济的一体化测试方案摘要随着 SiC、GaN 等新型功率器件的广泛应用，功率器件动态参数测试对系统响应速度、同步精度和灵活性提出了更高要求。本文基于 Liquid Instruments 的 Moku 平台，提出一种可重构、高集成度的功率器件动态特性测试系统设计方案。通过集成示波器、信号源、PID 控制器及数据记录仪等多种功能，Moku 平台可实现测试系统一体化构建与自动化控制，显著降低开发成本与复杂度，同时保证测量精度和可扩展性，为功率电子测试提供了灵活、高效的解决方案。1. 行业背景与测试挑战在功率半导体快速发展的背景下，基于新型材料的 ...
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