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为了发展新的光学介质（光子晶体光纤），研究人员已经被光波长尺度，即亚微米量级或更小尺度的结构材料表现出的能力所吸引。光子晶体通过将规则的微结构引入光学材料，彻底改变了材料的光学特性。它可看作是半导体物理学成果在光子领域中的拓展。实际上，半导体的能带结构是电子和晶格引起的周期性电动势之间相互作用的结果。通过求解周期性电动势的薛定谔方程，就能得到被禁带所分离的电子能量状态。类似地，如果把这种周期性变化的电动势用周期性变化的介电常数，即折射率来替换，同时，把薛定谔替换成经典的电磁波波动方程，就能获得光子晶体中的光子带隙。早在1987年，多伦多大学的Sajeev John和贝尔通信实验室的Eli Ya ...
差的计算任何光学介质，对透明波段中不同波长的单色光具有不同的折射率,波长短者折射率大。 光学系统多半用白光成像，白光入射于任何形状的介质分界面时，只要入射角不为零,各种色光将因色散而有不同的传播途径,结果导致各种色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。这种成像的色差异称为色差。通常用两种按接收器的性质而选定的单色光来描达色差。对于目视光学系统，都选为蓝色的 F光和红色的C光。色差有两种。其中描述这两种色光对轴上物点成像位置差异的色差称为位置色差或轴向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物体的像大小差异的色差称为倍率色差或垂轴色差。如下图,轴上点A发出一束近轴白光,经光学系统后，其中F光交光轴于 ...
差的计算任何光学介质，对透明波段中不同波长的单色光具有不同的折射率,波长短者折射率大。 光学系统多半用白光成像，白光入射于任何形状的介质分界面时，只要入射角不为零,各种色光将因色散而有不同的传播途径,结果导致各种色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。这种成像的色差异称为色差。通常用两种按接收器的性质而选定的单色光来描达色差。对于目视光学系统，都选为蓝色的 F光和红色的C光。色差有两种。其中描述这两种色光对轴上物点成像位置差异的色差称为位置色差或轴向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物体的像大小差异的色差称为倍率色差或垂轴色差。校正了位置色差的光学系统，只能使二种色光的像点或像面重合在一起，但 ...
）的影响下的光学介质。与光波传播方向平行的外部磁场（图1）。偏振面的旋转角由以下方程定义β= V ∙d ∙B其中（指MO传感器） 与外部磁场B的静态磁通密度成比例，d是光在MO介质中通过的距离，V是特定材料的Verdet常数，用于表示材料的特定旋转强度。并且因材料不同而不同。因此，Verdet常数取决于光的波长和MO材料特定的折射率。图2.不同制造阶段的磁光（MO）传感器：（从左到右）初始基片，涂有MO层，涂有反射层。三、磁场的可视化磁光传感器技术是一种用于磁场分析和可视化的绘图方法。为了对磁场进行光学可视化，MO-传感器被放置在与感兴趣的磁性材料的直接接触中，并用偏振光进行照明。光线穿过透明 ...
）的影响下的光学介质。与光波传播方向平行的外部磁场（图1）。偏振面的旋转角由以下方程定义其中（指MO传感器） 与外部磁场B的静态磁通密度成比例，d是光在MO介质中通过的距离，V是特定材料的Verdet常数，用于表示材料的特定旋转强度。并且因材料不同而不同。因此，Verdet常数取决于光的波长四、COMS-Magview系列磁场相机COMS-Magview系列磁场相机是一种高分辨率、高精度的磁性材料、部件和表面测量和可视化系统，不仅可以使磁场和磁性结构可见，还可以测量磁通量密度。CMOS-MagView是一种用于磁场光学可视化的创新设备。高度工程化的磁光传感器技术可以直接以高光学分辨率观察磁性材 ...
理想的非线性光学介质，因为与传统光纤相比，光子晶体光纤的纤芯更小，从而更容易产生非线性效应[2]，当改变包层空气孔直径和空气孔间距时，有效模场的能量密度也会发生强弱变化，从而使光纤的非线性性能发生相应变化，易于实现非线性效应。3.有效模场面积特性光子晶体光纤中，有效模场面积[3]是一个重要的参数，与光纤非线性效应紧密相关。有效模场面积是描述光纤中光模式分布范围的参数，在光纤传输和光信号调制中具有重要意义。以下是PCF的有效模场面积特性的一些关键点：大模场面积：相对于传统的单模光纤，PCF通常具有较大的有效模场面积。大模场面积意味着光信号的能量分布更广，使得PCF能够容纳更多的光信号，并提供更高 ...
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