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中,有效荧光发光面积的减小是通过受激发射效应来实现的。一个典型的STED显微系统中需要两束照明光,其中一束为激发光,另外一束为损耗光。当激发光的照射使得其衍射斑范围内的荧光分子被激发,其中的 电子跃迁到激发态后,损耗光使得部分处于激发光斑外围的电子以受激发射的方式回到基态,其余位于激发光斑中心的被激发电子则不受损耗光的影响,继续以自发荧光的方式回到基态。由于在受激发射过程中所发出的荧光和自发荧光的波长及传播方向均不同,因此真正被探测器所接受到的光子均是由位于激发光斑中心部分的荧光样品通过自发荧光方式产生的。由此,有效荧光的发光面积得以减小,从而提高了系统的分辨率。STED显微术能实现超分辨的另 ...
了样品的有效发光面积,从而突破了衍射极限的限制。荧光分子需要在激发态进行自发辐射发出荧光,因此激发态是亮态,STED中采用荧光分子的基态作为暗态。强制使得荧光分子处于暗态的机制采用受激辐射。当激发光光斑内的荧光分子吸收了激发光处于激发态后,用另一束STED光束照射样品,使损耗光斑范围内的分子以受激辐射的方式回到基态,从而失去发射荧光的能力。即荧光萃灭。这个过程就叫做受激发射损耗。只有损耗光强为零或较低的区域内的荧光分子能够以自发辐射的形式回到激态发出荧光,这样就实现了有效发光面积的减小。为了实现上述目的,损耗光聚焦后的光斑需要满足边缘光强较大,而中心趋于零的条件,一般采用的是环形的空心光斑,如 ...
度; L-发光面上的亮度; τ-光学系统的透射比(透过率); f-透镜焦距; l-透镜与发光面的距离(称为测量距离); fm系统相对孔径数,fm=f/D,其中D为孔径直径。 当系统的设计能使f/l可以忽略不计时(在某误差范围内)(1-f/l)2近似等于公式(1)可以化为:公式(2)公式(2)为设计成像式亮度计的基本公式。色度测试原理:光源的色度用色品坐标x,y表示,与光源的相对光谱功率分布有关;如果一个光源的相对功率分布函数用P(λ)来表示,(λ)、(λ)、(λ)代表CIE1931标准光谱三刺激值,如下图所示,则此光源的三刺激值可用如下公式来表示:滤光片式彩色亮度计的色度测量功能的 ...
激光二极管的发光面积大约比LED小4个数量级(0.0001mm2对比1mm2),使其能够在更小的发散角内提供类似的功率输出。激光腔的横向宽度(发射区宽度,见图4)决定了激光是单模(宽度<10μm)还是多模(宽度>50μm)。就应用而言,单模和多模半导体激光器在输出功率和角度发散之间代表着一种权衡。图4. 法布里-珀罗(FP)半导体激光器示意图。整机尺寸一般为1000µm×500µm×200µm(长×宽×高)。对于单模激光器,发射区宽度小于10 μ m,对于高度为1 μ m的多模激光器,发射区宽度小于50 μm。除了高辐射强度和小光学扩展量(见表1)之外,激光源的光输出是相干的,而L ...
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