以较大地提高泵浦效率。昊量光电公司推出低损耗（<4 dB/Km@1060/1550 nm）、全波段（350-1750 nm）单模、纯硅纤芯光子晶体光纤（宽带单模光纤），芯径为9 um；包层直径为125 um；同时我们可提供不同芯径产品系列(6-20 um 可选)，zui高可达20 um，利于传输更高功率；主要应用于光纤传输。上述参数均为标准品，我们还可以根据客户的实际需求实现产品定制化服务！了解更多关于光子晶体光纤系列详情，请访问上海昊量光电的官方网页：https://www.auniontech.com/three-level-135.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光 ...
镜的系统双色泵浦探针装置的光源是一个Ti:蓝宝石振荡器，重复频率为80 MHz，脉冲持续时间约为100 fs。中心波长为840nm(红外线)的激光束在BBO晶体中频率翻倍至420nm(蓝光)。基波光束在样品位置的功率高达350mw，作为泵浦光束激发样品。功率约为1mw的倍频波束作为探测波束。图1图1显示了在极性/法拉第(图1a)和纵向(图1b)几何结构中使用的光束路径。在静态测量的情况下，只使用蓝色(探针)光束。对于时间分辨的测量，延迟级用来在泵浦脉冲和探测脉冲之间引入时间延迟。光路50mm的变化允许泵浦和探针光束之间的总时间延迟超过300ps。在通过物镜聚焦到样品上之前，两束光束是平行偏振的 ...
研究背景。将泵浦激光束聚焦在样品表面，形成一个高斯形状的热源，而探针激光束聚焦在同一点，测量反射率的变化。对于微小的温度变化，反射率的变化与附加屈光度系数的表面温度的变化成正比。样品通常涂有一层较薄的金属传感层(如100铝膜或金膜)。TDTR和FDTR是非接触式光泵-探针技术，其中一束光（泵浦光）作为热源，而第二束光（探测光）通过表面反射率的变化来检测由此产生的温度变化，如图1中所示。通常，探测光会选用传感层金属的热反射系数绝对值较高的波长，而泵浦光选用传感层吸收系数较高的波长，以保证在同样的光功率和光功率密度下更大的样品反射率幅度变化，如铝膜传感层选用800nm的探测光和400nm的泵浦光； ...
光纤预制棒制造工艺简介前言：制备光纤预制棒，即是将经过提纯的原材料制成一根其内芯与外包层折射指数分布与最终拉制出光纤芯、包层折射指数分布相同的圆柱棒，通常称为“预制棒”或“光棒”。预制棒的制造是光纤制造的核心技术，因而其制造技术的水平也就代表了光纤制造技术的水平。纯的熔石英具有单一的折射率，其光谱折射率的分布是从0.55um处的1.460到1.81um处的1.444。为了制备具有高折射率棒芯（n1）和低折射率包层（n2）预制棒，必须通过“掺杂”，即在石英中掺以适当的掺杂剂，如二氧化锗（GeO2）或五氧化二磷（P2O5），制成高折射率的棒芯，而以纯石英材料为低折射率的包层；也可以在石英中掺入折射 ...
激光器, 即泵浦和斯托克斯(图1), 以相干地激发分子的振动。为了从嘈杂的背景中捕捉到非常小的SRS信号, 高频调制和相敏检测方法是必要的。图1:检测到由于SRS导致的Stokes到泵浦光束的振幅调制转移。所展示的泵浦光束的重复率为80MHz，Stokes光束具有相同的80MHz重复率，但也在20MHz处调制。通过这个检测方案，Δpump被提取出来。为了进行实时双色SRS成像实验, 研究人员必须运用正交调制并检测同相和正交信号分量。“在大多数SRS光谱实验中, 由于激光器总带宽的限制, 光谱范围被限制在300 cm-1左右,”华盛顿大学化学助理教授Dan Fu博士说到。“避免这种情况的一种方法 ...
光谱型椭偏仪的校准（一）-椭偏仪校准思路在分立器件和集成电路的制造过程中常用到各种不同的薄膜，如热氧化膜 (二氧化硅Si〇2薄膜）尧电介质膜 (Si3N4薄膜)等。薄膜厚度是一个重要的参数，对各种薄膜厚度参数的精确、快速测定和控制，是保证器件质量、提高生产效率的重要手段。光谱型椭偏仪是半导体和微电子领域使用广泛的薄膜厚度测量仪器。为了保证光谱型椭偏仪测量结果的准确可靠，通常会使用薄膜厚度已知的膜厚标准样片对椭偏仪的薄膜厚度测量能力进行校准。一般情况下膜厚标准样片的衬底材料为硅，薄膜材料为热氧化生长的二氧化硅。由光谱型椭偏仪测量原理可知：椭偏仪在测量薄膜厚度时，得到的直接测量量为椭偏角（和），薄 ...
光谱型椭偏仪的校准（二）-椭偏仪的基本原理针对光谱型椭偏仪校准结果受测量模型影响大的问题进行研究，提出一种不受测量模型影响的校准方法，即 通过校准椭偏角实现光谱型椭偏仪的校准。依据椭偏仪测量原理，通过仿真分析确定实现较大范围内椭偏角校准所需标准样片的薄膜厚度量值，并采用半导体热氧化工艺制备出性能稳定的膜厚标准样片。椭偏仪是利用椭圆偏振术对透明薄膜进行无损测量的一种仪器，它是利用偏振光在薄膜上下表面的反射，通过菲涅耳公式得到光学参数和偏振态之间的关系来确定光学薄膜折射率和厚度。因其准确度高且为非破坏性测量，是测量光学薄膜折射率和厚度zui常用的一种测量仪器。椭圆偏振术的数学模型为式中:— 偏振角 ...
光谱型椭偏仪的校准（四）-样片测量法我们之前使用的空气测量法是使用空气和平行平晶作为标准，对椭偏仪特定椭偏角的测量结果进行验证，但是这并不能保证椭偏角在全范围内的量值准确可靠。基于以上分析，有必要给出一种更为完善的椭偏角校准方法，以保证光谱型椭偏仪椭偏角在较大范围内测量结果的准确可靠，我们称他为样片测量法。根据椭偏仪测量流程可知，首先需要测量被测样品得到椭偏角参数，然后建立测量模型通过拟合的方式得到薄膜的厚度。对于光谱型椭偏仪而言，不同材料、不同薄膜厚度的样片，对应的椭偏参数是不相同的。假定被测样品材料固定，则椭偏角和薄膜厚度建立了对应的关系，使用不同厚度的薄膜样片就可以实现椭偏角的校准，测量 ...
03 基于“泵浦-探测”原理，结合了频域热反射、空间域热反射、稳态温升法、方脉冲热源法的优点，具有强大的热物性综合测试能力，能够测量从薄膜到块体材料的热导率、比热容和界面热阻。系统自动化程度高，操作简便，特别利于大批量快速测量。如果您对面内热导率测试系统 AU-TRSD103感兴趣，想了解更多信息，请访问上海昊量光电官方网站：https://www.auniontech.com/details-2038.html相关文献：[1] 陈海军,马灵芝,唐祯安.交流量热法测量SiO2薄膜的热扩散率[J].功能材料, 2002, 33(5):3.DOI:CNKI:SUN:GNCL.0.2002-05-0 ...
光谱型椭偏仪的校准（五）-样片的制备与稳定性考核样片的制备本文采用了半导体热氧化工艺制备膜厚标准样片，该样片使用4寸硅晶圆片制备。由于硅晶圆片区域较大，为保证使用膜厚标准样片校准椭偏仪结果准确，在研制的膜厚样片上设计特殊图形，标记出膜厚标准样片的测量区域，其为标准样片中心直径为20mm的圆形区域，如下图1所示。图1 膜厚样片测量区域示意图膜厚标准样片制备的具体工艺流程如下图2所示。图2 样片制备流程工艺图在膜厚样片的制备过程中，需要严格控制二氧化硅薄膜生长工艺参数，以保证膜层的均匀性和稳定性 ，制备出的膜厚标准样片如下图3所示。图3 制备的膜厚标准样片样片的稳定性考核实验膜厚标准样片作为一种标 ...
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