摘 要:波前传感器(波前分析仪)是自适应光学系统最重要的组成部件之一,决定了自适应光学系统最终的调制结果。同时波前探测器在激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统的波前像差检测,虹膜定位像差引导,大口径高精度光学元器件检测,平行光管/望远镜系统的检测与装调,红外、近红外探测,激光光束性能、波前像差、M^2、强度的检测,高精密光学元器件表面质量的检测等领域发挥着越来越重要的作用。法国PHASICS公司研发团队,突破传统技术的壁垒,成功研发出了世界上分辨率最高的四波剪切干涉技术波前探测器。本文简单介绍了波前传感器的原理和典型应用,以及四波剪切干涉技术原理,比较了剪切干涉技术的波前分析仪与传统哈特 ...
形镜为代表的波前校正器件更是蓬勃发展、种类繁多。传统变形镜基本上所有类型的传统变形镜都是用驱动器产生一个力来推动薄的反射镜面。镜面可以是一块块分立的小反射镜也可以是一整块薄的反射面;力的产生有很多种不同的方法,但应用最多、最成功的是压电效应和电致伸缩效应等。区分各种变形镜的基本要素有两个:驱动器和镜面。按照这样的方式可将变形镜大致分为几类,见下表。分立表面变形镜 分立式驱动器 单自由度(Piston) 多自由度(Piston&Tip/Tilt) 连续表面变形镜 分立式驱动器 垂直驱动 弯矩驱动器ez 整体式驱动器 最常用的一类变形镜是连续镜面分立式驱动器类型,典型 ...
本组成部分:波前传感器、波前校正器和波前控制器。自适应光学系统中的能动器件就是波前校正器,它通过改变光束横截面上各点的光程长度,达到校正波前畸变的目的。一般可以通过反射镜面的位置移动或传输介质折射率的变化来实现光程长度的改变。其中在自适应光学系统中应用最为广泛的是基于反射镜面位置移动的波前校正器(通常称为变形镜),其具有响应速度快、变形位移量大、工作谱带宽、光学利用率高、实现方法多的优良特性。自适应光学系统能够实时测量并补偿各种干扰引起的光学系统的波前畸变,使光学系统具有自动适应外界条件变化从而保持最佳工作状态的能力。基于这样的优点,自适应光学一直以来被广泛应用于天文观测和激光传输等领域,获得 ...
杂运动利用光波前校正技术所产生的力可以在科技和工程应用的许多领域实现快速控制,如全息光镊可以对多粒子进行实时动态的捕获和操控。奥地利Innsbruck 医学院的Jesacher 等在用液晶空间光调制器产生复杂光波前的实用性方面进行较多的研究。他们通过分别控制光场的振幅和相位,在预先设定形状的光阱中捕获和操纵微观的电介质小球。改变光场的振幅和相位,不仅可以实现十字、矩形、圆形等特殊形状的光阱,还可以控制粒子在其中沿特定的路径运动,原则上可以实现对粒子在任意形状的光阱中的操控。3 全息光镊的其他应用由全息技术形成的复杂光镊在捕获和操纵微观粒子或原子等不同场合具有重要的应用价值,因为它比通常的只能控 ...
D数字全息、波前传感及三维全息光镊等。 ...
活的调节空间波前相位信息,正在被越来越多的科研用户所青睐。液晶空间光调制器所涉及的应用领域也越来越广泛,例如:全息成像、激光通信、自适应光学、超分辨成像、全息光镊、光束控制等。如何正确选择一台适合自己应用的液晶空间光调制器(SLM)就成了许多用户所关心的问题。下面就以美国Meadowlark Optics公司(原BNS公司)的空间光调制器为例,通过解析液晶空间光调制器的各个参数的意义及影响,来帮助大家更加深刻的了解空间光调制器,从而帮助大家可以在以后能选择好适合自己的SLM。01 空间光调制器调节相位的原理液晶空间光调制器(spatial light modulator, SLM)是一类能将信 ...
元密度的新型波前矫正器件, 一直受限于液晶的刷新速度,在许多的应用领域无法满足科研人员的需求。美国Meadowlark Optics公司20多年以来一直致力于研发高响应速度的空间光调制器,近期Meadowlark Optics宣布推出液晶刷新速度(0-2π)高达600Hz@532nm; 500Hz@635nm的高速型SLM,其控制器的帧频为833Hz。引 言:这款高速型液晶空间光调制器的分辨率为512x512,像素25um,开孔率:96%,通光口径:12.8x12.8mm;相信这款空间光调制器的出现,可以为天文自适应,生物显微自适应等对空间光调制器的刷新速度有较高要求的客户带来便利。液晶空间光 ...
焦透镜之类的波前成形装置在显微成像领域被广泛的用于像差校正,体积成像和可编程神经元激发。 其中液晶空间光调制器(SLM)是高分辨率的相位调制器,能够创建复杂的相位图,以在三维(3D)体积内可实现任意的光束偏转,可实现三维(3D)体积重塑。 Meadowlark Optics(MLO)公司最新的SLM将面填充率从83.4%提高到96%,并将分辨率从512 x 512像素提高到1920 x 1152像素,同时在1064 nm处达到300 Hz的液晶响应时间(0-2π)和845Hz的帧频,可覆盖波段:850-1650nm。 本文总结了MeadowlarkOptics公司新的SLM的功能,以及SLM在 ...
纹波。4. 波前质量(波前畸变) 单光子激发相比,双光子激发具有更好的限制,因为由两个光子同时激发的可能性与光强度的平方成正比。因此,双光子激发以焦点距离的四次幂衰减[8]。然而,这种低激发的可能性使得操作模式对改变焦点的PSF的像差敏感。为了确保在大体积上的一致激发,校正显微镜中SLM和其余光学元件的像差是很重要的。 许多用于表征和校正像差的算法都基于Zernike多项式。然而,对圆形孔径的依赖不适用于描述正方形或矩形阵列的像差。已经开发了基于SLM的干涉子孔径的替代策略[9],以确保SLM的有效区域上的像差可以被校正到λ/ 40或更好。如图7所示,由于使用了制造工艺,MLO SLM ...
显示的是设置波前与实际探测到的波前间的差值,从Time span里修改显示时间长度。9. LOOP Mode Target 该界面只能用于闭环情况下设定目标波前,然后ACE软件会控制变形镜达到设定值;每个小图形代表一种像差,单位是um , Reset按钮把变形镜设置为一个平面。10. WFS SHDetector 该界面显示的是波前探测器的图片, Saturation表示的是最亮的那个像素点的饱和度,Set Bias 是减去背景图,再次单击Set Bias可关闭该功能。Max Scale和 Min Scale为分别过滤到大于Max或者小于Min的数据; Align按钮显示WFS的中心位置,有助 ...
7~8π反射波前畸变 (RMS Calibrated):Up to λc/12 灰度等级:256 /8 Bit寻址电压精度:4,096 analogCPU 至 SLM 传输时间 (one image):16.7 ms(60Hz)应用领域:SLM应用于激光通信、全息光镊、光遗传学、神经学、显微镜、脉冲整形、天文自适应等领域。
行不同波长的波前畸变校准及线性校准,生成相应的波前校准文件(WFC)和线性校准文件(LUT)。1436Hz帧频-纯相位液晶空间光调制器(SLM)产品应用:该产品广泛应用于自适应光学,散射或浑浊介质中的成像,双光子/三光子显微成像,光遗传学,全息光镊(HOT),脉冲整形,光学加密,量子计算,光通信,湍流模拟等领域。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商,代理品牌均处于相关领域的发展前沿;产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场
行不同波长的波前畸变校准及线性校准,生成相应的波前校准文件(WFC)和线性校准文件(LUT)。Meadowlark Optic公司所有型号的SLM都满足真8bit灰度调制(即8位灰度相位图的每个灰阶都对应一个可检测的,不重复的相位)。为满足真8bit调制,设备控制器将驱动电压细分为更多的电压级次(通常为12bit,即4096个细分电压级次)。对于特定波长,选取其中256个电压级生成特定波长下的0~2π映射的LUT,具有目前市面上可实现的Zui高线性度。为满足高刷新速度带来的大吞吐量的数据传输需求(每张1024乘1024分辨率的8位灰度图约为1MB),设备采用定制的PCIE控制器和数据线。同时P
1920x1152可见光波段高分辨率纯相位液晶空间光调制器 美国MeadowlarkOptics公司的P1920-400-800-HDMI系列空间光调制器(SLM)采用模拟寻址方式,具有好的相位稳定性,在光学领域有着广泛的应用,现已在科研实验室广泛使用。纯相位SLM利用液晶的双折射原理,能够实时对光的相位及振幅进行调制。1920x1152高分辨率液晶空间光调制器(LC_SLM)具有分辨率高、大面阵(17.7x10.6 mm)、高填充因子(95.7%)、高衍射效率、相位调制稳定性好(≤0.5%)等特点。产品指标参数:应用领域:SLM应用于激光通信、全息光镊、光遗传学、神经学、显微镜、脉冲整
光学系统透射波前质量等功能。Difrotec公司开发的点衍射干涉仪具有大口径(≥700mm),高精度(≤0.6nm RMS)等特点。我们是一家以客户需求为导向的公司,根据客户的需求集思广益,提供合适的解决方案。 Difrotec公司的点衍射激光干涉仪广泛应用于平面,球面,非球面等面型的检测。点衍射激光干涉仪 产品特点:绝对测量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000)分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000)波前重复精度(RMS): < 0.23 nm (λ/2800)Simple RMS repeatability
SID4 波前传感器/波前分析仪【SID4简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器,SID4覆盖可见光和近红外范围,是适用于
高线性度和大波前调制量连续反射面变形镜,其产品广泛用于天文、自由空间激光通信、眼科、多光子荧光显微镜和下一代高端半导体设备等应用,与欧洲南方天文台(ES0)、霍华德·休斯医学研究所(HHMI, Betzig)与罗切斯特大学在天文、多光子荧光显微镜及眼科应用上面取得了异常丰硕的研究成果。从2010年开始,上海昊量光电设备有限公司与Alpao建立了紧密的合作关系,旨在为国内的研究机构提供前沿的自适应光学技术。ALPAO大口径(240mm)高速连续变形镜产品介绍:Alpao高速变形镜采用电磁驱动器来使硅薄膜连续反射面发生形变,拥有大波前调制量、高线性度和可以进行实时波前调制等特点,适合天文、自由空间
现了对光束的波前调制。Meadowlark Optics调制器具备多项设计,在光能利用率、像素串扰、位相调制的线性度等方面的技术都很好,可实现纯位相调制、位相振幅混合调制。光路搭建方便!主要特点:空间分辨率高(1920 x 1152)大面阵(17.7x10.6 mm)高填充因子(95.7%)高衍射效率(88%)高刷新速率(845Hz)高液晶响应速度:1.4ms@532nm;1.8ms@635nm;3.3ms@1064nm;5ms@1550nm相位调制稳定性好(0.5-1%)400-1620nm宽波段选择可分辨灰阶:4096/12bits主要应用领域:双子显微成像• 光学相控阵•光学操纵激• 超
素3D成像,波前整形,压缩感知鬼成像,量子成像,数字光刻,场景模拟,数字平板印刷,OLED&LCD修复,激光3D打印SLA&SLS.关键词:DMD,DMD空间光调制器,DLP,数字光处理,数字微镜阵列,德州仪器TI DLP®Discovery™4100开发套件,DMD芯片,数字光投影 上海昊量光电设备有限公司代理的德国ViALUX公司的超高速V系列DMD(DLP®)空间光调制器基于TIDLP®DiscoveryTM4100和DLPC910芯片组,代表了当前市场上DLP®系列产品的zui高性能。 V系列DMD(DLP®)空间光调制器可以对数字微镜阵列DMD进行灵便的控
(弧秒)出射波前 (p.v.633nm)重量 (克)USHM-101.0/251.0-30.00.15-3.5034USHM-151.5/380.5-30.00.10-5.2573USHM-202.0/500.5-30.00.15-7.00126-136USHM-252.5/630.5-30.00.25-9.00206-227USHM-505.0/1270.5-30.00.45-18.0639-855四、低轮廓中空回射器(LPR系列),专为FTIR光谱仪和系统设计的OEM产品。型号通光孔径 (in/mm)光束偏移(弧秒)出射波前 (p.v.633nm)重量 (克)LPR-050.50/12.7
SID4-HR 波前传感器 / 波前分析仪【SID4-HR 简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-HR为要求苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨
,λ/12高波前平整度,5W/cm2高损伤阈值。产品特点:1)高相位稳定性:美国MeadowlarkOptics公司采用独有的模拟寻址技术,底板刷新速度可达6KHz,相位纹波可以降低到0.20%以内。2)高波前平整度:采用共轭补偿的方法,波前畸变可降低到λ/12 。3)16bits/65536控制精度:采用16bits的DVI控制器,相位调制精度可达λ/1000 。4)宽波段(400-1650nm):原厂可在405nm,532nm,635nm,785nm,1064nm,1550nm做线性校准。主要应用领域:光学通信•• 显微成像• 成像&投影• 光束分束• 相位调制• 光学镊子• 全息
真空兼容高分辨率波前分析仪 法国Phasics创造性的推出了市面上首款真空兼容的高分辨率波前分析仪SID4-V。SID4-V波前传感器的独特设计使其可在真空环境下(10-6mbar)实现激光波前/激光等离子体/电子密度等的测量,获得更准确的测量结果。波前分析仪产品特点:1)真空环境兼容:>10-6mbar2)分辨率高:160x1203)宽波段:400-1100nm4)软件功能:包含激光波前和Plasma检测模块5)可直接测量发射光束:NA值0.2波前分析仪指标参数:
XY系列偏振无关液晶空间光调制器--可定制一款偏振无关的纯相位空间光调制器。光能利用效率加倍,工作波长可达1550nm。创新性的LCoS SLM!XY向列型偏振无关空间光调制器美国BNS公司新近推出一款偏振无关的空间光调制器,该产品使用硅基液晶技术,可以用于多个领域,作为基本组件,例如:光纤通信网络,加强型显微成像和高分辨率自适应光学系统。目前,BNS开发的这款产品已经商业化,具有高分辨率,偏振不相关,纯相位调制等特点。这款仪器的独特之处在于克服了使用现有的LCoS和MEMS原理的技术限制和障碍,开启一片新应用领域。偏振无关LCoS vs. 标准LCoS来自通信光纤的光的偏振状态会由于温度或者
径超高分辨率波前传感器【SID4-UHR 简介】SID4-UHR超高分辨率波前传感器可用于光学计量需求。 它结合了SID4的易于光路搭建的特点,并拥有超高分辨率及相位精度。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 SID4-UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查(表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等)和光学组件的表征(镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等)。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器搭载高性能相机,也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512(可选高至666 x 666)相位取样分辨率使SID4-UHR成为
-UV 紫外波前传感器/波前分析仪【SID4-UV波前分析仪简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。SID4-UV波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-UV波前分析仪作为低可
素3D成像、波前整形、光通信、生物显微成像、压缩感知鬼成像、数字光刻、数字平板印刷、OLED&LCD修复和SLA&SLS 3D打印。关键词:DMD,数字微镜阵列,DMD空间光调制器,数字光处理,TI DLP® Discovery™4100开发套件,数字光投影 超高速V系列DMD空间光调制器V-650LNIR提供灵活的控制,能适用于各种相关应用。利用DLP®Discovery 4100芯片组50Gbit/s的带宽特性,帧频可高达10752fps。通用高性能编程开发工具ALP4.3支持只使用部分像元,可实现高达50000fps帧频. V-650LNIR配置的Corning
)检测及透射波前检测。产品参数:产品特点:测量光路示例:
-HR 紫外波前传感器/波前分析仪【SID4-UV-HR简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器,SID4-
短波近红外波前传感器 / 波前分析仪【SID4-SWIR 简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-SWIR波前传感器将Phasics的四波剪切
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