动态干涉仪动态干涉仪是一种高精度的光学测量设备，它能够对光学元件或系统的面形和波前进行快速而精确的测量。这种仪器特别适用于那些需要在动态环境下进行测量的场景，例如在没有光学气浮平台的车间里，或者在有嘈杂泵和空气处理机的洁净室内。动态干涉仪的主要特点包括：1.高测量频率：能够以高达800Hz的频率进行测量。2.长距离测量能力：zui大干涉测试距离可达100米。3.高重复测量精度：精度RMS（均方根）可以达到λ/1000或更高。4.对环境不敏感：能够抑制环境振动和湍流对测量精度的影响。5.适用于各种反射率的样品：被测样品的反射率范围从1%到100%。便携性：一些动态干涉仪设计为便携式，适合在各种环 ...
菲索干涉仪菲索干涉仪（Fizeau interferometer）是一种光学测量设备，通常用于测试光学表面的质量，如平面度、波面像差和材料的均匀性等。菲索干涉仪的原理基于等厚干涉，当光线在两个平行表面之间多次反射时，会产生干涉条纹，通过分析这些干涉条纹，可以测量出表面的微小不平整度。菲索干涉仪的构造通常包括以下几个部分：1.光源：提供稳定的单色光或准单色光。2.准直系统：将光源发出的光变成平行光束。3.分束器：将光束分为参考光束和测试光束。4.标准平面或球面：作为参考表面，与被测表面形成干涉。5.被测光学元件：待测量的光学表面。6.成像系统：用于观察和记录干涉条纹。菲索干涉仪的应用非常广泛，它 ...
迈克尔逊干涉仪迈克尔逊干涉仪（Michelson interferometer）是一种精密光学仪器，由美国物理学家阿尔伯特·亚伯拉罕·迈克尔逊发明。它通过将一束入射光分成两束，然后让这两束光分别经过不同的路径后再重新结合，产生干涉条纹。这种干涉条纹可以用来测量光波的波长、物体的微小位移、厚度以及折射率等物理量。工作原理：当两束光的频率相同、振动方向相同且相位差恒定时，它们可以发生干涉。通过调节干涉臂的长度或改变介质的折射率，可以形成不同的干涉图样1113。干涉条纹实际上是等光程差的轨迹，因此，分析干涉产生的图样需要求出相干光的光程差位置分布的函数。迈克尔逊干涉仪的zhu名应用之一是迈克尔逊-莫 ...
100nm，干涉图样显着退化。在这些条件下测量厚度变得具有挑战性。图1 不同表面粗糙度的5um聚合物薄膜的反射光谱(700nm-1700nm)（模拟）。对于光散射，有一个特征，即在较短波长下加速退化（强度和干涉）表面粗糙度会导致光散射增加。这导致镜面反射率降低和干扰减弱。编织长度越短，光散射越明显。因此，长可见光和近红外(NIR)波长范围(700-1700nm)更适合表面粗糙度的应用。表面粗糙度对反射光谱影响的模拟（图1）表明，对于RMS>100nm，干涉图样显着退化。在这些条件下测量厚度变得具有挑战性。图2 粗糙度为0.5umRMS的金属表面（掩模版直径为20um）。在20微米的尺度上 ...
NOM，基于干涉测量的检测方法可以提供有效的背景抑。利用聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)在1733 cm−1的吸收波段，对PS-b-PMMA(苯乙烯-b-甲基丙烯酸甲酯)BCP (PS-b-PMMA)相对较大的自组装图案(~80 nm间距)的IR - s-SNOM图像进行了对比。由远场散射光子从尖端周围区域产生的压倒性背景信号。与远场散射相比，缺乏能够可靠地增强近场拉曼散射的成像探针，这阻碍了TERS的广泛采用，尽管它很有希望。此外，聚合物共混物和BCP系统不适合共振拉曼增强，需要很长的信号集成时间。对于红外sSNOM，基于干涉测量的检测方法可以提供有效的背景抑。利用聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)在 ...
0ps的延迟干涉仪（12.5-GHz自由光谱范围）导入到非线性晶体中，以实现高速纠缠源。新开发的低抖动差分超导纳米线单光子探测器（SNSPDs）可以使time-bin量子比特解析为80ps宽的仓。波长复用被用来实现多个高可见度的通道配对，这些配对共同加起来形成了一个高符合率。每对配对可以被视为光子纠缠的独立载体，因此整个系统通过使用波长选择性交换适用于灵活网格架构。每个通道的亮度和可见度被量化，作为泵浦功率、收集效率以及符合率的函数。在低平均光子数（$$μ_L=5.6×10^{-5}±9.0×10^{-6}$$）时8通道系统可见度可达到平均99.3%，而在较高功率时（$$μ_H=5.0×10^ ...
ehnder干涉仪中，形成调幅器。图4：Mach-Zehnder振幅调制器施加电压会导致分支之间的相对相位差，从而通过干扰导致器件输出处的输出功率的变化。因此，设备传输可以控制在min值和max值（P min到Pmax）之间。从打开状态到关闭状态切换需要π的相对相位差。所需的电压称为调幅器的半波电压Vπ。由于推拉操作，调幅器的半波电压是具有相等电极长度的相位调制器的半波电压的一半。例如，在635 nm处可以预计红色为1.5 V，在约1550 nm的通信波长范围内为5V。图5：输入/输出指示灯图6：振幅调制器特性曲线将射频信号作为调制电压应用于电极，该电压输入被转换为振幅信息。这个振幅输出取决于 ...
马赫-曾德尔干涉仪耦合环结构(MZICR)分别如图1(A) -1 (c)所示，是三种不同的器件结构，用于电光电场传感器。所有的结构都是通过将器件蚀刻到与石英衬底结合的TFLN中来制造的，该衬底与集成光子芯片通过光纤耦合，该芯片具有光栅耦合器，可以将光纤中的光耦合到芯片上的亚微米铌酸锂光波导上。图1所示。(a)马赫-曾德电磁场传感器原理图，(b)微环谐振器传感器，(c)马赫-曾德干涉仪耦合微环谐振器原理图。对于Mach-Zehnder器件结构，耦合光使用1×2多模干涉(MMI)耦合器装置在Mach-Zehnder干涉仪的两臂之间进行分割。Mach-Zehnder干涉仪的一个臂被极化以逆转铌酸锂晶 ...
(MZI)干涉仪部分(图1a)和一个输入和两个输出光栅耦合器(图1b)组成。在Mach-Zehnder干涉仪部分，使用1 × 2 MMI耦合器将光纤耦合光分成两臂。一个MZI臂被极化以逆转铌酸锂晶体的自发极化方向(图1c)。因此，对于一个MZI臂，在给定的电场下折射率增加，而在相同的电场下，另一个臂的折射率会减少。因此，通过MZI的激光在一个臂中经历了+ φ的相移，在另一个臂中经历了−φ的相移。太赫兹波从自由空间耦合到MZI 电光传感器，激光探针脉冲利用垂直于传感器芯片表面的保偏光纤耦合到电光传感器芯片。目前的器件由600nm铌酸锂在500um熔融二氧化硅衬底上制成，工作波长为1550nm。 ...
。反射光谱中干涉条纹的幅度约为0.1%，并且非常清晰：薄膜叠层模型与测量数据相符，并且可以准确确定厚度/n&k。图1 低光学对比度测量–基材上的涂层，折射率差异<0.1反射条纹p-p幅度~0.1%。模型根据数据进行拟合，厚度/n&k被准确确定。为了进行比较，许多流行的可见光谱仪中使用的SonyILX和Toshiba1304探测器的DNR约为1000。使用这些探测器之一进行图1中的测量会更加困难。另一方面，像S10420这样的高质量CCD探测器的DNR约为40K至50K，并且可以准确测量0.01%的反射率。实际上，需要对固定模式噪声进行非常精确的校准才能测量低信号电平的信号 ...
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