中文：云污染；英文：cloud contamination

椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建（十九）- 圆形微流腔体3.3微流腔体由于半弧形电解池存在的不足，所以进行了池体的改进，得到圆形微腔体以及进一步改进的流动长方形微腔体。它们都有易于拆卸更换电极、操作简单等优点。3.3.1圆形微腔图3-16是圆形微腔制作完成的实物图以及在椭偏仪测试中的放置示意图。该池体主要由基底即工作电极Au/Si、橡胶圈和上面的打孔ITO即对电极组成，他们由上下亚克力板即四角的螺丝固定压紧。其中上面的亚克力板去掉了一块留出观察窗口，减小光在传播过程中的损耗。ITO上打孔用于溶液的注入。电极的连接由铜胶带实现。图3-16(a)实物图;(b)椭偏仪测试中的放置图用该电解池进行了 ...

椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建（二十）- 长方形流动微腔3.3.2长方形流动微腔为了解决溶液微圆形腔体溶液注入困难、溶液少及反应产生气泡的问题，进一步对腔体进行改进，得到微流腔体。图3-18是微流腔体制作过程示意图，首先准备好ITO、EVA胶膜、特氟龙细管、Au/Si，把EVA胶膜切成内为25px×62.5px，外为37.5px×75px的长方形，然后从上到下依次把ITO、EVA胶膜/特氟龙细管、Au/Si叠好置于加热平台，在150℃下加热，使得EVA软化粘合池体，zui后冷却得到成品。该池体工作电极即为Au/Si基底，上端的ITO即为对电极，溶液的进出由两边的特氟龙细管实现，通常制作完成 ...

用单个锥形光纤植入物进行深度分辨光纤光度测定（转译自文献Depth-resolved fiber photometry with a single tapered optical fiber implant）活体荧光检测可用于记录和研究自由运动动物脑深部遗传定义的神经群的功能信号。例如，纤维光度法通过监测特定细胞类型神经活动时荧光随时间变化来实现。这些方法推动了基于光子学和光电子平台技术以及使用多路复用技术记录多个亚种群活动方法的发展。通常情况下，光纤测量方案依赖于扁平切割光纤进行刺激和收集荧光2-9,11 - 19。然而，由于组织散射和吸收效应，扁平切割光纤的可访问记录深度仅限于光纤尖端附近 ...

荧光寿命成像技术在微塑料识别中的应用微塑料问题已成为全qiu关注的环境问题，其在多种生态系统中的累积导致了对野生生物及人类健康的潜在风险。荧光寿命成像（FLIM）技术作为一种先jin的识别手段，在微塑料研究领域显示出巨大的应用潜力。随着塑料使用量的持续增长，微塑料的环境污染问题日益严重。传统的微塑料检测方法往往耗时且效率不高。FLIM技术提供了一种高效的解决方案，能够通过分析微塑料的荧光寿命来快速识别和分类这些污染物。FLIM技术的核心在于使用荧光寿命作为区分不同物质的依据。荧光寿命是指材料被激光激发后，发出荧光持续的时间。在FLIM设备中，一个特定波长的激光被用来激发微塑料样本。样本吸收激光 ...

椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建（二十一）- 不同沉积条件CU20制备CU20作为一种半导体材料，实验组前期对其进行了系统的研究。其中电化学沉积CU20薄膜对沉积条件如沉积电压、沉积温度和溶液pH值等十分敏感，且不同条件下沉积得到的CU20薄膜的催化性质有差异。对CU20薄膜沉积进行在位监控即可以承接前期研究，又可以作为在位沉积案例实现本研究系统搭建，所以此次研究以CU20薄膜沉积为表征对象。本文主要是应用所设计的电解池进行薄膜的沉积并实现椭偏仪的在位监测和对所得到的数据进行拟合分析，构建出简单可行的椭偏仪在位表征体系。首先，进行了不同电流的恒压沉积且对成分进行了分析，确定了后续实验的沉积电 ...

椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建（二十二）- 沉积前装置的椭偏数据1形貌分析图4-2(a)是准在位监测后沉积1080s时测试得到的SEM图，在1μm放大倍数下看到沉积的薄膜颗粒大小不等（~10-103nm），形态上为不规则的块状。实验组前期用三电极体系(Au/Si工作电极，Pt网对电极，Ag/AgCl参比电极)恒压法(-0.05V)常温下(T=20℃)沉积30分钟得到的结果如图4-2(b)所示。与恒压沉积相比，沉积薄膜粒径不均匀性更强。图4-2CU20薄膜的SEM图：(a)沉积1080s(b)实验组前期恒压常温沉积2不同沉积时间椭偏数据的分析对沉积时间为180s、360s、540s、720s ...

椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建（二十三）- 全波段沉积过程的准在位测试分析-不同沉积时间所对应的椭偏参数1、不同沉积时间所对应的椭偏参数Psi、Delta、R图4-5是得到的不同沉积时间椭偏参数Psi和Delta及反射率R随着波长的变化，对比0s的图线，Psi、Delta、α及R值在整体上都是减小的，整体趋势较相似，但存在峰位的增加及峰位的移动。从图4-5(a、e)来看，与0s相比，不同沉积时间Psi值随波长的变化趋势的大致相同。不同沉积时间的Psi值在300nm到500nm波段变化较小，相较于0s时在330nm处出现峰位。沉积时间为180s时，波长在500-800nm的长波范围，其值从衬 ...

椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建（二十五）- 全波段沉积过程的准在位测试分析-介电常数介电常数(、)图4-7(a，c)是不同沉积时间介电常数实部e1随波长变化图，与折射率n的趋势相似。随着时间的变化，值发生变化。当沉积时间为180s的时候，在500-800nm长波范围，其值从衬底的-20增加到-0.5，这也意味着新的物质沉积，导致衬底的信息减少。在沉积时间增加到360s和540s时，整体上值比180s减小了3左右，在350nm附近出现一个较明显的波包，同时在550nm附近出现一个波包。当沉积时间增加到720s之后，的值恢复到沉积180s附近，但是在500-800nm波段稍小，且在500nm附 ...

椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建（三十二）- 总结与展望上文主要用设计的微流腔体进行了椭偏仪的在位监测与分析。实验包括三个部分，一是不同电流下Cu2O膜的沉积；二是准在位椭偏仪监测Cu2O薄膜的沉积过程，即每沉积180s后进行300-800nm波段的椭偏仪测试，共测试了6组(180-1080s)；三是实验是椭偏仪在位监测Cu2O薄膜的沉积过程，0-1080s，椭偏仪取样时间约为13s。经过对实验得到的椭偏谱分析拟合知：1．对于该微流电解池体系，用-0.4mA的恒流沉积可以得到单一的Cu2O薄膜，故而后续实验选-0.4mA作为沉积电流；2．准在位椭偏仪监测Cu2O薄膜的沉积得到椭偏谱整没有呈现 ...

椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建（二十八）- 中心能量的演变1.短波范围图4-13是CU2O激迁图(b)和300nm-500nm拟合得到的不同沉积时间中心能量值(a)。从图4-1(a)中看到，在有自旋能级分裂时，一部分CU2O激子跃迁将如图所示。图(a)是在300nm-500nm波段用四振子LorentzOscillator+Drude模型拟合得到的不同沉积时间下的中心能量以及代表了不同类型的激子激发相应的能量线。可以看到180 s和900s得到了三个拟合中心能量，其余时间得到了四个中心能量。从中心能量与横线的对比中看出，在沉积时间为180s时的三个中心能量分别为EOA/EOB(EOA/EO ...