列(八)位置色差的计算任何光学介质,对透明波段中不同波长的单色光具有不同的折射率,波长短者折射率大。 光学系统多半用白光成像,白光入射于任何形状的介质分界面时,只要入射角不为零,各种色光将因色散而有不同的传播途径,结果导致各种色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。这种成像的色差异称为色差。通常用两种按接收器的性质而选定的单色光来描达色差。对于目视光学系统,都选为蓝色的 F光和红色的C光。色差有两种。其中描述这两种色光对轴上物点成像位置差异的色差称为位置色差或轴向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物体的像大小差异的色差称为倍率色差或垂轴色差。如下图,轴上点A发出一束近轴白光,经光学系统后,其中 ...
(九)-倍率色差的计算任何光学介质,对透明波段中不同波长的单色光具有不同的折射率,波长短者折射率大。 光学系统多半用白光成像,白光入射于任何形状的介质分界面时,只要入射角不为零,各种色光将因色散而有不同的传播途径,结果导致各种色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。这种成像的色差异称为色差。通常用两种按接收器的性质而选定的单色光来描达色差。对于目视光学系统,都选为蓝色的 F光和红色的C光。色差有两种。其中描述这两种色光对轴上物点成像位置差异的色差称为位置色差或轴向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物体的像大小差异的色差称为倍率色差或垂轴色差。校正了位置色差的光学系统,只能使二种色光的像点或像面 ...
波像差系列(六)-色差的波像差显示单色球面波经光学系统后,将由于像差而发生变形。如果物方球面波是复色的,那么,各色波面经系统后,将因各自像差的不同而有不同程度的变形。二种色光,如F光和C光的波面间的偏离量,可用来表征色差,称之为波色差。这种用波像差概念来讨论色差的方法,由 A.E. Conrady 在其著作《应用光学和光学设计》一书中首先提出,即(D-d)方法。在(D-d)方法中,d表示光学系统中各光学零件沿光轴的厚度,D表示光线在相应零件中的光路长度。所以,就是轴上点发出的某一光线与沿轴光线之间的光程差或波像差。按此,同一孔径的F光和C光各自的光程差应是和,二者之差即为波色差,以表示,有式中 ...
统包括两个消色差透镜,一个向列型液晶空间光调制器(LCOS)SLM(Meadowlark,XY系列,512x512像素,像素大小=15微米,设计波长=532纳米)和一个偏振分光器,用于过滤未被SLM调制的X偏振光。第1个消色差透镜在SLM上转发光束。第二个中继镜头确保在EMCCD上对荧光物体进行奈奎斯特采样。显微镜配备了一套波长为405nm、488nm、561nm和642nm的合束激光器。这个配置增加了一个用于校准SLM的第二个光路。这个空降光调制器校准光路是为测量入射到SLM上的X和Y偏振光之间的延迟差而设计的,为了测量某个SLM像素的调制,需要将SLM映射到校准路径的相机上。这种映射是通过 ...
测量。• 消色差,对应所有波段消色差。• 纳米级别测量精度。易用的• 紧凑的。• 易于准直的。• 能快速获取分析结果。三、Kaleo Kit适宜多种应用场合 望远镜准直与表征 凹⾯镜测量大直径平面光学特性测量:滤光片、窗口、偏振光学 任意配置的⼤直径镜头和物镜测量离轴镜头测量Phasics是一家专门从事相位测量的法国公司。Phasics向其客户提供全系列的产品,所有这些都是基于独特的技术,即四波侧向剪切干涉技术。Phasics波前传感器体积小、结构紧凑,分辨率高、动态范围大,并且易于使用。非常适合集成在用户的光路中用于光学元件及组件的计量。另一方面,Phasics也提供定制化的量测系统。可以根 ...
,这是一种消色差的技术,因此白光和LED光源非常适合。此外,可以使用任何显微镜进行测量,并且不依赖于偏振。如上图光路所示,SID4相机位于被测物体的成像面进行探测,使用简单。SID4相位成像相机可以集成在商业反射显微镜或专用光学系统上。SID 和 AFM 测量比较图中红线部分是Phasics测量结果,黑线位AFM测量结果。使用AFM测量表面缺陷,和使用SID4相位成像相机一次测量成型的结果对比。SID4 与 光学轮廓测量仪 对比使用SID4 HR定量测量,以及白光光学轮廓仪测量结果的对比。两个报告中,第一个侧重于轮廓,第二个侧重于深度测量。测量结果Phasics是一家专门从事相位测量的法国公司 ...
生球差和位置色差。一般对三种色光分别作近轴光线、0.707 带光线和边缘光线的追迹后,就可算出像差值和画出如下图所示的三 色球差曲线。据此可全面判断轴上点像差的校正状况。垂轴平面上近轴轴外点或大孔径小视场系统的轴外点,只要根据轴上点光线的追迹结果,就能通过计算正弦差值来判知其 像质。远离光轴的点会产生所有像差,因此需对轴外点进行全部像差的计算。这种计算至少应对边缘视场和 0.707视场点进行,每点的孔径取值与轴上点相同。对于绝大多数能以二级像差表征高级像差的光学系统,以上计算已足够。对于那些不能忽略高级像差的系统,计算的光线数应该有所增加。 一般计算六个视场点,取值为 Kw = -1,-0.8 ...
统包括两个消色差透镜,一个向列型液晶空间光调制器(LCOS)SLM(Meadowlark,XY系列,512x512像素,像素大小=15微米,设计波长=532纳米)和一个偏振分光器,用于过滤未被SLM调制的X偏振光。第一个消色差透镜在SLM上转发光束。第二个中继镜头确保在EMCCD上对荧光物体进行奈奎斯特采样。显微镜配备了一套波长为405nm、488nm、561nm和642nm的合束激光器。这个配置增加了一个用于校准SLM的第二个光路。这个空降光调制器校准光路是为测量入射到SLM上的X和Y偏振光之间的延迟差而设计的,为了测量某个SLM像素的调制,需要将SLM映射到校准路径的相机上。这种映射是通过 ...
大变化而保持色差不变,可对某个透镜或透镜组作整体弯曲。这种做法对除色差和匹兹凡和以外的所有像差均有效。六、利用折射球面的反常区。在一个光学系统中,负的发散面或负透镜常是为校正正透镜的像差而设置的,它们只能是少数。因此,让正的会聚面处于反常区,使其在对光束起会聚作用的同时,产生与发散面同号的像差就显得特别有利。设计者应善于利用这一性质。七、利用透镜或透镜组处于特殊位置时的像差性质。例如处于光阑位置或与光阑位置接近的透镜或透镜组,主要用于改变球差和彗差(用整体弯曲方法);远离光阑位置的透镜或透镜组,主要用来改变像散、畸变和倍率色差。在像面或像面附近的场镜可以用来校正像面弯曲。八、对于对称型结构的光 ...
,它是一种消色差干涉技术,与传统宽视场显微镜的白光照明路径兼容。我们考虑将 QWLSI 与传统的白光透射显微镜结合使用。尽管 Primot 等人已经对使用改进的 Hartmann 掩模 (MHM) 的 QWLSI 的特性进行了严格研究。Phasics公司提出了波动光学和几何光学之间的简单联系,以解释光源的空间相干性对相位测量的影响。在对基于 QWLSI 的 WFS 进行理论分析后,展示了它对相位显微镜的兴趣,并通过测量校准的测试样本来量化其准确性。然后将该技术应用于活细胞成像。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激 ...
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