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而导致较低的自由载流子吸收,这通常是QCL器件中大部分波导损耗的原因。在这种相对较低的掺杂水平下,由于缺乏非常精确的校准工具,可能很难将不同基团之间的掺杂水平相关联,因此估计活性区掺杂水平的一种方便方法是比较QCL结构中的Max隧道电流,因为它与注入器中的掺杂水平成正比实际上,在本研究中,Max隧穿电流密度约为1.35 kA/cm2,表明本研究中结构的掺杂水平要低得多;这与本文文献12中的3.8 cm−1和1.84 cm−1的内部损耗是一致的——遗憾的是,文献中没有光损耗报告。zui终,较低的光损耗导致室温连续波阈值电流密度较低,约为0.83 kA/cm2,而相关文献分别为1.53 kA/cm ...
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