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割和抛光，使晶体光轴从平板的法线向表面倾斜。由x射线衍射测量建立的倾斜角度很小，从表1可以明显看出。表1石英和蓝宝石样品轴倾斜和双折射通常入射到板上的光所经历的双折射为其中（ne-n0）为本征双折射，θ为倾斜角。表1显示了石英和蓝宝石每个倾斜角度的净双折射。在λ = 632.8 nm处，石英的本征双折射值为0.0091，蓝宝石为-0.0081。用穆勒矩阵激光旋光计测量了平板，用Hinds Exicor系统测量了平板。Exicor系统设计用于测量极小的双折射(0.005 nm)。激光旋光计是为进行穆勒矩阵测量而设计的。测量这些倾斜轴板的目的有四个方面:1)确定是否从测量中发现标称倾斜角度，2)确 ...
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