中文:门控法荧光寿命成像;英文:time-gated fluorescence lifetime imaging

解释
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釆用一种将微通道板像增强器与电荷耦合器件相耦合的探测器的宽场荧光寿命成像技术。利用高重复频率的脉冲光激发样品,然后在激发后不同时刻(也就是不同时间窗口)选通像增强器和CCD相机,获得一系列荧光强度图像,利用单指数或多指数函数模型逐点拟合所测量到的数据,从而可以计算出样品上各点的荧光寿命并成像。