中文:特外曼-格林干涉仪;英文:Twyman-Green interferometer

解释
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又称“棱镜检验干涉仪” “照相物镜检验干涉仪” “显微镜物镜检验干涉仪”。一种迈克耳孙干涉仪的变型。它使用准单色点光源,经准直透镜变成平行光束,形成等厚干涉条纹。是光学测量领域主要的双光束干涉仪,广泛用于平面、球面等各种光学零件的检验。如显微镜物镜、照相物镜、棱镜等。