中文：射线形貌术；英文：X-ray topography

中文：射线形貌术；英文：X-ray topography的原理；中文：射线形貌术；英文：X-ray topography的定义；中文：射线形貌术；英文：X-ray topography是什么。
利用X射线在晶体完整区和缺陷区的衍射光束强度的变化及其规律，观测晶体及器件表面和内部结构缺陷的一种测试技术。这是一种无损检验，其样品制备简单，实验重复性好，能决定缺陷的性质。X射线形貌学主要有5种：反射形貌术、透射形貌术（包括截面形貌术、投影形貌术和限区形貌术）、双晶形貌术（又分为透射和反射两种）、异常（厚晶体）透射形貌术、同步辐射源X射线形貌术 （分白光和单色光）。