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又称“波前探测器”。对光束波前相位分布进行直接或间接探测的传感器。主要应用于自适应光学、光学像差测量等方面。 ...
式有利于克服波前探测器和波前驱动器的非线性效应,使用广泛。 ...
4波横向剪切波前探测器。二、技术原理待测光进入到传感器,经过衍射光栅分光,使±1级共4束衍射光通过,用CCD记录干涉条纹。采集到的干涉条纹,经过傅里叶变换,分别提取到强度图和XY方向的相位梯度,并合成为相位图。这样通过一次采集,就得到了该位置处的强度和相位信息,同时也能推算出其他位置处的强度和相位信息。一次拍摄,能同时解出强度和相位。三、优势1、相比于夏克-哈特曼传感器,采样点更多,具有更高的分辨率。2、灵活易用,通过简单的设置就能进行测量。3、消色差,一个传感器就可用于400-1100波长范围内的测量。四、探测波长包括从紫外(150nm)到远红外(8.14um)一系列波长范围五、应用案例激光 ...
界面显示的是波前探测器的图片, Saturation表示的是最亮的那个像素点的饱和度,Set Bias 是减去背景图,再次单击Set Bias可关闭该功能。Max Scale和 Min Scale为分别过滤到大于Max或者小于Min的数据; Align按钮显示WFS的中心位置,有助于光路对齐。鼠标滚轮可以放大或者是缩小显示界面,RETSET ZOOM恢复到默认大小。11. WFS History 显示波前探测器探测到的随时间变化的信息,红线显示的是RMS值,单位为um; 蓝线显示的是PV值,单位也为um。在Time Span里可以选择显示时间区间。12. WFS modes 该界面显示波前探测 ...
制结果。同时波前探测器在激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统的波前像差检测,虹膜定位像差引导,大口径高精度光学元器件检测,平行光管/望远镜系统的检测与装调,红外、近红外探测,激光光束性能、波前像差、M^2、强度的检测,高精密光学元器件表面质量的检测等领域发挥着越来越重要的作用。法国PHASICS公司研发团队,突破传统技术的壁垒,成功研发出了世界上分辨率最高的四波剪切干涉技术波前探测器。本文简单介绍了波前传感器的原理和典型应用,以及四波剪切干涉技术原理,比较了剪切干涉技术的波前分析仪与传统哈特曼传感器的特点。引 言:波前传感器(Wave Front Sensor),按照其技术发展的历史可以 ...
法国PHASICS成立于2003年,提供最先进的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得专利的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性,从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉,公司提交申请的高精度红外(3-5um &8-14um)/近红外(900-1700nm)波前传感器出口豁免申请已获得通过。这就意味着客户采购SID4-DWIR红外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器时无需再提供最终用户备案 ...
EUV/X射线光束分析仪该款EUV,X射线Hartmann-Shack波前传感器配置是为全面分析激光束和光学特性而设计。系统采用微透镜阵列将入射波分成大量的子射线(如右下图),每个焦点的强度和位置由CCD相机获取,经后续计算重构得到光强分布和波前分析。 主要特点: ** 详细指标要求,可咨询上海昊量光电设备有限公司。 ...
波前相差仪/波前探测器 400X300高分辨率、500um高动态范围、高性价比、同时检测波前与M^2波前传感器! 关键词:波前传感器、波前分析仪、波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF 法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹 ...
真空兼容高分辨率波前分析仪 法国Phasics创造性的推出了市面上首款真空兼容的高分辨率波前分析仪SID4-V。SID4-V波前传感器的独特设计使其可在真空环境下(10-6mbar)实现激光波前/激光等离子体/电子密度等的测量,获得更准确的测量结果。波前分析仪产品特点:1)真空环境兼容:>10-6mbar2)分辨率高:160x1203)宽波段:400-1100nm4)软件功能:包含激光波前和Plasma检测模块5)可直接测量发射光束:NA值0.2波前分析仪指标参数: ...
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