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超高的性价比Semiconsoft很高兴能提供突破性的低价格,使原本又困难又昂资的薄膜测量变得很便宜很简单。附件 多种不同的平台,晶圆平台和特殊测量探头可适合大部分样品的尺寸。在线测量针对制程应用,Semiconsoft的测量系统仅需要在光路上直视待测样品,并提供与多种控割系统的接口。把显微镜变成薄膜厚度测量工具用于图形化表面和光斑小至10微米的薄膜厚度测量应用。MPROBE20可以方便地与绝大多数显微镜相连。标淮c型精接器可以和测量点的CCD相机相连。厚度测绘系统将MPROBE20厚度测量功能和直观操作作延伸为大面积样品的自动测绘。几分钟内显示样品的均匀性。五不到数百个点的扫描速度可达每秒1 ...
统的应用使用Semiconsoft公司的先进光谱系统,可以很快、很容易地测量厚度、折射率及消光系数。只要将Semiconsoft 系统插入您电脑的USB接口,就能开始测量。整个系统只需要几分钟来设定,只需要基本的电脑知识就能测量。这种简单的硬件系统和直观的软件为所有新用户提供了薄膜知识。从近红外到紫外 系统能在波长200纳米到1700纳米 范围内测量厚度从1纳米到1.8毫米的薄膜。Semiconsoft 系统可测量几乎所有常用材料做成的透光薄膜。容易操作的软件用户能很快地掌握Semiconsoft软件熟悉而又友好的界面。测量一次大约一秒。测量数据,及测量细节能够非常容易地通过标准Windows ...
理等等。美国Semiconsoft公司MProbe VisHC膜厚测量系统提供了坚固和易于使用的解决方案,允许直接测量产品上的涂层厚度。手动探头MP-FLVis与一根柔性光纤电缆连接到系统上。符合样品曲率的探头可以很方便且很准确地进行测量。MProbe VisHC膜厚测量系统主要用于测量大于1英寸(25mm)的零件。较小的测量点(<200µm)降低了背面反射率的影响。MProbe VisHC系统软件采用先进的厚膜算法进行高曲率膜和抗雾涂层的曲线拟合算法。算法可以被很容易地调整/训练,以度量最具挑战性的样本。测量过程易供缺乏经验的操作人员使用和理解。涂层实验操作员可以在从镀膜系统中移出样品 ...
Mprobe 20 单点薄膜测量仪MProbe 20是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统,只需点击鼠标就可进行薄膜厚度和折射率测量,测量厚度范围1nm-1mm。MProbe 20可对多层膜层进行测量。不同的MProbe 20主要由灯源的波长范围、光谱仪的波长范围和分辨率来区分,这也决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。MProbe 20基于光谱反射率测量,具有快速、可靠、无损等特点。配置包括:控制器(包括光谱仪、光源、光控制器、微处理器)SH200A样品台,带对焦镜头,可微调光导纤维反射探头TFCompanion -RA软件、USB适配器(授权密钥)、USB记忆棒附带软件发行、用户指南等资料根据型 ...
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