SCMOS相机 光束分析仪 DMD 光纤束 合束激光器 共焦 拉曼光谱仪 锁相放大器 无掩膜光刻机 高光谱相机
您对搜索结果满意吗?
光子源偏振纠缠验证实验1900年,普朗克为了克服经典理论解释黑体辐射规律的困难,引入了能量子概念,为量子理论奠下了基石。随后,爱因斯坦针对光电效应实验与经典理论的矛盾,提出了光量子假说,并在固体比热问题上成功地运用了能量子概念,为量子理论的发展打开了局面。1913年,玻尔在卢瑟福有核模型的基础上运用量子化概念,对氢光谱作出了满意的解释,使量子论取得了初步胜利。从1900年到1913年,可以称为量子论的早期。以后,玻尔、索末菲和其他许多物理学家为发展量子理论花了很大力气,却遇到了严重困难。要从根本上解决问题,只有待于新的思想,那就是“波粒二象性”。光的波粒二象性早在1905年和1916年就已由爱 ...
激光干涉仪是如何测量位移的?激光干涉仪是一种广泛应用于科学研究、工业制造和精密测量领域的仪器。在科学研究领域,激光干涉仪广泛应用于物理学、化学和生物学等多个学科,为研究人员提供了强大的工具。在工业制造中,激光干涉仪在精密加工、质量控制和自动化生产中发挥着关键作用。激光干涉仪的基本原理是利用激光的干涉效应进行测量和分析。在国际上,有多种常用的激光干涉仪技术,如迈克尔逊干涉仪、法布里-珀罗干涉仪和雅各比干涉仪等。它们在不同领域展现出卓越的性能和应用潜力。法布里-珀罗干涉仪是一种常用的干涉仪,其为基于光学谐振腔原理的干涉仪器。核心是由两平行的反射镜构成的腔体,其中的激光通过多次反射形成谐振,从而形成 ...
如何使用Moku进行阻抗测量?频率响应分析仪Moku的频率响应分析仪(FRA)在Moku输出上驱动扫描正弦波,并同时测量Moku输入接口接收到的信号幅度(或功率)。FRA可以测量系统或被测设备(DUT)的传递函数,从而创建幅度和相位与频率的关系图,通常称为波特图。图1 波特图示例为了测量被测设备的阻抗(Zdut),我们需要了解 FRA 的功率图。FRA 图使用dBm或相对于一毫瓦(1 mW)的分贝为单位;在这种情况下,一个方便的计量单位。定义为:Moku FRA扫描正弦输出可以以伏特(峰峰值)为单位进行设置。对于正弦曲线:将上式带入(2)式,可得:以dBm表示,换算为mW,并且我们已知Moku ...
光的传播1.麦克斯韦方程组光是一种电磁波,麦克斯韦方程的特性可以用四个方程来描述。上式,E和H分别为电场和磁场矢量;p为自由电荷密度;J为自由电流密度;矢量场D和B分别为电位移和磁感应强度。方程1是自由空间电场的高斯定理:通过一个封闭曲面的电通量正比于封闭曲面内的净电荷量。方程2是自由空间磁场的高斯定理:通过封闭曲面的磁通量为零。方程3是自由空间的法拉第感应定理的数学表达式:随时间变化的磁场产生电场。方程4是自由空间的安培定理,指出随时间变化的电场产生磁场。这4个方程在时间变化的情况下是相互影响的,电场和磁场相互作用构成电磁波,电场和磁场是由电荷和电流产生的。洛伦兹定理指出,当电荷q在电磁场( ...
椭偏仪与偏振相位(四)-光强测量法的原理及误差分析光强测量法1.测量原理所谓光强测量法是通过测量测试系统透过的光强值,利用透过光强与待测元件位相延迟关系计算出待测元件延迟值。测试系统构成与光谱扫描法相同,系统出射光强表达式也相同。式中Ω和θ是两个zui活跃的量,容易改变并准确测量。因此理论上讲,为避开对的测量,可任意测定两组不同的Ω和θ的光强值及,即可求出待测元件的延迟,其结果可以表示为:式(1)是光强法的通解。当保持θ不变,改变波片方位角Ω进行测量的方法为旋转待测波片法;而当保持Ω不变,改变θ的测量方法为旋转检偏器法。下面简述这两种常用方法的原理。(1)旋转待测波片法:旋转波片法通常采用读取 ...
椭偏仪与偏振相位(二)-光谱扫描法的原理及误差分析光谱扫描法1.测量原理光谱扫描法是利用波片延迟与入射波长的函数关系,通过改变系统入射光波长,记录不同波长系统透过光强从而测得位相延迟的方法。测试系统由起偏器和检偏器及置于其间的待测元件等构成。若以起偏器透振方向沿x轴,双折射器光轴方位角为Ω,延迟为φ,检偏器透振方向为θ方向,则系统Jones矩阵可表示为:若以强度为的自然光入射,则系统出射光强可表示为:因此,测得Ω、θ、I(λ)及值即可计算出该波长所对应的延迟值。这种方法便于测量不同波长对应的位相延迟,若辅以精密的单色仪便可以方便快捷地获得大量数据。但考虑到系统表面反射及吸收损失,不易准确测得, ...
空间域热反射SDTR基于的光学交流量热法进入微尺度以后材料的热物性与宏观尺度相比发生了很大的变化,分析和测量微尺度下材料的热物性参数对微尺度传热理论分析和研究微器件的热传导能力及散热速度具有重要的意义。交流量热法是测量薄膜热扩散率的有效方法之一,适合测量半导体、金属、非金属等多种薄膜材料。图1:交流量热法的测量原理图[1]交流量热法的测量原理如图1所示。当一定频率和一定脉冲宽度的激光加热样品时样品表面上会呈现出同频的交变温度波。在一定距离上该温度波的衰减和相位滞后与样品的热物性有关。根据已知一定距离上不同两点间的温度波可以通过温度波的幅度衰减或相移计算出样品的热扩散率。当样品厚度远远小于热扩散 ...
WaveCam:颠覆振动测量领域的全新视频振动分析解决方案视频振动分析是一种利用高速摄像机捕捉目标物体的运动,并通过图像处理算法计算其振动特性的方法。昊量光电昊量光电全新推出的我们的振动视觉增强影像系统/振动运动放大成像技术WaveCam软件就是一款利用先jin的光流和人工智能(AI)算法,从视频数据中自动提取振动位移,无需设置传感器或电缆。不仅如此,WaveCam不仅可以分析高速相机录制的视频,任何智能手机录制的视频均可以分析结果!相比于传统的振动测量手段如加速度计、激光测振仪(单点的、扫描的)测量方法对比参数如下表格所示,接触式的加速度计对于布置传感器非常不方便,WaveCam振动分析软件 ...
一种快速无损确定苹果收获期的光谱检测方法背景介绍为了使苹果早上市卖高价,将未成熟的苹果过早提前采摘,会严重影响苹果的产量和质量,降低苹果的贮藏性能。要增加果农的生产效益,必须提前采收苹果。适期采摘是保证苹果优质高产,提高果品贮藏力的重要环节。图1.不同成熟度,不同品种的苹果苹果适期采收,分期采收,是提高苹果内在品质,外观品质和贮藏性的有效措施。判断果实成熟与否和确定采收期的方法很多,传统的办法主要是根据果品重量,果皮底色,果肉硬度,计算果实从盛花后到果实成熟的生长天数,果实的呼吸跃变期发生时间,果实淀粉含量,气候条件,品种等因素来判断采收期。论述我们讲述的是一种能够在果园中使用光学和无损测量来 ...
电光调制器解调器相关原理Pockels电光粒子本身不会对通过它的光产生强度调制。然而,利用静态偏振光器件,如格兰-汤普森棱镜或偏振光薄膜,可以将产生的椭圆偏振光转换成强度变化。图1表示了一个简单的强度调制方案。如果输入偏振器对齐如图所示,其偏振轴平行于晶体x(或y)轴,分析偏振器旋转90°(交叉偏振器)。在没有施加电压到晶体的情况下,这种组合将产生一个zui小强度。当施加半波电压时,强度达到zui大值。与电压呈正弦关系(图2)。四分之一波延迟电压对应50%的传输电平。控制相对传输的方程。归一化后的半波能级为:T = sin2 (xV/2Vx)图1利用位于交叉偏振器之间的电光调制器进行强度调制图 ...
非球面镜和球面镜的差别及应用球面镜球体是旋转对称的光学器件,其形状对应于球面的截面(图1)。曲率半径与几何中心的距离是不变的。这意味着只需指定一个参数,即半径R,就可以描述光学有效的表面。由于这个参数在整个表面上是恒定的,球体在制造方面具有成本优势。图1:用半径表示球面的光学有效面积球面的制造优势在生产成本方面,球面取得了明显的优势。这要归功于它的几何形状。球体表面的均匀形状确保了简单的制造过程和更短的生产时间,特别是对于小直径的产品,因为在一个支撑体上可以同时制造多个光学器件。这也适用于光学检测和测量的过程,因为可以在整个表面上测量出均匀的、可以快速生成的结果。触觉测量方法(如轮廓仪或三维坐 ...
COMS-Magview-磁场相机背后的秘密-磁光传感器!磁性材料的可靠使用需要精确的磁场分布信息,例如在生产过程中、作为质量管理过程的一部分以及在研发领域中。磁光传感器是无损检测磁场分布的新方法。图1.此图代表不同阶段的磁光传感器:初始基板、涂有MO 和反射层(从左到右)现有磁场测量系统的原理基于磁场对传感器内电压和电流等电学参数产生不同物理效应。通过测量值和特定材料常数,可以分析磁场强度和通量密度。例如,在霍尔传感器中,导电材料(如半导体材料)的霍尔效应会产生一个输出电压——霍尔电压——其与磁通密度成正比。另一种广泛使用的类型是磁阻传感器,它利用了传感器材料阻力随磁场变化而变化的特性,并因 ...
焦点光斑分析仪的选型指南:激光3D打印应用领域(SLA&SLM)为了使用基于激光的增材制造工艺创造出一致的、坚固的结构,以满足航空航天标准或医疗设备的FDA要求,需要已知尺寸、功率密度和焦点位置的激光束是必需的。高质量的3D激光打印工艺需要激光器提供正确的功率,正确分布并集中在正确的位置。为了确保部件的一致性和结构的合理性,这些参数应该在制造任何关键部件前后可以直接测量,极大地帮助光学工程师分析设备光路中产生的各种问题。德国Cinogy焦点光斑分析仪是基于相机式原理测量光斑形状,分析光斑数据;相机式原理为直接式测量,具有精度高、真实反映实际光束特性等特点。激光光束照到传感器芯片上可以实 ...
椭偏仪(三)-椭偏测量原理假设有一束单色光,振幅为 Ei与直角坐标系x轴的夹角为α,将其分解为沿直角坐标系x轴的p光和沿直角坐标系y轴的s光。则入射光p光和s光的振幅分别为Eip和 Eis,入射光经过薄膜的反射后p光和s光的振幅分别变为Eiprp和Eisrs,相应的相位变为δrp和δrs,故p光和s光的反射光电矢量分别为消去时间因子t,便可得到反射波电矢量末端的运动轨迹:式中:Δ=δrp-δrs。上式实际上就是椭圆方程。也就是说线偏振光入射,与待测样品发生相互作用后,由于p光和s光的反射率不同,反射光不再是线偏振光,而变成了椭圆偏振光,引入参量tanΨ和Δ,Δ表示p光分量和s光分量的相位差,t ...
膜厚测量原理(六)-台式薄膜测量系统的优势MPROBE20数秒内的薄膜测量台式MPROBE20可以快速、简便地测量厚度,光学常数(n和k)和透射率。这台功能 齐全的仪器能测量1纳米到1毫米厚的透光或半透光的薄膜。精度一般在几个埃。光斑大小可调节并且范围很宽。超高的性价比Semiconsoft很高兴能提供突破性的低价格,使原本又困难又昂资的薄膜测量变得很便宜很简单。附件 多种不同的平台,晶圆平台和特殊测量探头可适合大部分样品的尺寸。在线测量针对制程应用,Semiconsoft的测量系统仅需要在光路上直视待测样品,并提供与多种控割系统的接口。把显微镜变成薄膜厚度测量工具用于图形化表面和光斑小至10 ...
畸变系统的一般像差理论(一)-费马原理和汉密尔顿的特征函数我们将像差函数写成幂级数展开形式,并表明在一个畸变系统中有16种主要的像差类型。我们还将证明畸变主波误差和光线误差之间的联系。本次主要介绍介绍费马原理和汉密尔顿的特征函数。费马原理是几何光学的基本定律之一,它指出:光线从点P传播到点P '必须穿过一条光程长度,该光程长度相对于路径的变化是静止的。根据费马原理,我们可以得出一个重要的结论:对于光学系统中任意两个非共轭点P和P ',都有且只有一条光线通过这两点。如果P和P '是共轭点,这个结论是无效的,因为所有穿过共轭点的光线都具有相同的光程长度。这一结论的理论重要性 ...
单频CARS与SRS显微系统单频CARS/SRS显微镜最具挑战性的部分是激发源,它必须产生两个同步的激光脉冲---泵浦和斯托克斯,需具有以下几点特征:1. 频率失谐在500和之间连续变化,以覆盖所有相关的振动跃迁。这意味着至少有一个泵浦/斯托克斯脉冲是广泛可调的。例如,假设一个固定的泵浦波长为800纳米,斯托克斯必须在835和1110 nm。2.脉冲持续时间为1 - 2 ps,对应于变换限制脉冲的带宽为以这种方式匹配压缩相中振动跃迁的典型线宽。这种选择优化了峰值功率和光谱分辨率之间的权衡。最佳脉冲持续时间也可以取决于实验条件,因为已经表明,在某些情况下,响应是一个与时间相关的函数,因此信号可以 ...
用于超精密光学超低噪声光学频率梳的锁相方法摘要具有低相位噪声的光学频率梳(OFC)可以在经典和量子系统中实现更严格的计量。为了消除相位噪声,必须扩展载波包络相位的反馈带宽和重复频率。在这里,我们提出了一种构建超低噪声OFC的方法。通过利用不同的电光调制器作为快速执行器,这种方法可以扩展反馈带宽超过150 kHz重复率的相位锁定和载波包络的抵消相位锁定,我们分别得到残余相位噪声21.8 mrad(18.1as)和86.1mrad(71.3as)的稳定光的击打信号和载波包络的抵消频率。我们通过测量两个梳齿之间的相对线宽来验证这个架构,它揭示了在1秒平均时间内,环内跳动的分数不稳定性小于环外跳动的分 ...
傅里叶变换透镜(一)光学镜头既能作为成像传递信息的工具,又可以作为计算元件。具有傅里叶变换的能力、为这个目的而设计的镜头称为傅里叶变换镜头。这种镜头结构简单,信息容量大,具有进行运算和处理信息的能力,而且运算速度为光速,故应用日趋广泛,常用作图像频谱分析、空间滤波和相关处理等工作,是光学信息处理系统中最重要的部分。下图1是由两个傅里叶变换透镜串联而成的一个空间滤波系统。图1为了获得严格的傅里叶变换关系,应该把被处理面(输入面)放在透镜的前焦面上,频谱面(滤波面)置于后焦面上,它同时又是起傅里叶反变换作用的下一个透镜的前焦面,从而在后焦面上得到输出信息。光学信息处理中的傅里叶变换透镜所能传递得到 ...
使用Moku:Lab的锁相放大器模拟受激拉曼散射显微镜拉曼效应是由C.V.拉曼在20世纪20年代首次发现。它是一种广泛使用的光谱方法来确定分子的振动模式。与其他分析化学方法相比,光谱方法提供了高空间分辨率。不需要直接接触就可以获得化学信息。振动光谱提供了合理的化学特异性,而不需要额外的标签。然而,自发拉曼效应是一个弱散射过程。对于成像和显微镜的应用来说,获得一个视场可能需要几个小时的信号整合时间。因此,相干拉曼散射方法,如刺激拉曼散射效应,现在被广泛用于拉曼成像。在这个应用说明中,我们将描述Moku:Lab的锁相放大器是如何在波士顿大学的先进的刺激拉曼成像装置中实现的。介绍拉曼光谱是一种非破坏 ...
显示更多
或 投递简历至: hr@auniontech.com