载波包络相位测量仪
纯线性光学技术测量载波包络相位相移工具
载波包络相位测量仪CEOLiT用于对超短脉冲序列的CEP载波包络相位进行测量。其原理是超稳定传输环路的光谱由脉冲序列的CEP载波包络相位来决定。由于该技术是完全线性化技术，载波包络相位测量仪CEOLiT是能够对UV-IR极端波长微弱脉冲的载波包络相位进行测量的产品，光束带宽可以窄化到一个倍频程。
光谱相移,相位波前,角色散,材料色散,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量
当前测量CEP载波包络相位的常规方法要求：
激光脉冲需要倍频程宽度
足够的脉冲能力驱动非线性过程
频谱范围受非线性过程的限制
载波包络相位测量仪CEOLiT用于对超短脉冲序列的CEP载波包络相位进行测量。其原理是超稳定传输环路的光谱由脉冲序列的CEP载波包络相位来决定。由于该技术是完全线性化技术，载波包络相位测量仪CEOLiT是能够对UV-IR极端波长微弱脉冲的载波包络相位进行测量的产品，光束带宽可以窄化到一个倍频程。
产品特点：
基于线性光学干涉法
无带宽限制
对准及操作简单
无频谱范围限制
降低噪声及机械振动设计
CEP载波包络相位测量
采用超稳定HeNe激光，对环形长度进行测量并控制在1um以下
包含测量和稳定控制软件
CEP载波包络相位探测速度达35kHz
技术规格：
载波包络相位测量精度：@800nm @1030nm @1550nm | < 69 mrad < 54 mrad < 36 mrad
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脉冲序列重频（MHz） | 68-90 |
脉冲序列最小脉冲数 | <3 |
光谱范围（um） | <0.15-20 |
通光孔径（mm） | 10 |
体积(L×W×H): | 575×370×150 |
长期稳定性图：
相位噪声密度图：
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产品标签：光谱相移,相位波前,角色散,材料色散,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量
