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tor)”。应用光学杠杆方法测量微差尺寸的长度计量仪器。测量时轴线与工作台垂直的称为立体式光学计,轴线与工作台平行的称为卧式光学计。 ...
应用光学干涉原理的一种显微镜。分反射式和投射式,用于测量零件表面粗糙度、透明介质的内部缺陷等。 ...
椭偏仪与偏振相位(八)- 利用消光式椭偏仪测量波片相位延迟量实验1消光式椭偏仪使用上海昊量光电设备有限公司的智能消光式椭偏仪,该椭偏仪主要由光源、光机系统、旋转样品台、电路控制系统及数据采集与处理软件组成。光源则采用的波长为632.8nm的氦氖激光器,适用于反射及透射样品测量。使用仪器测量(,Δ)时精度分别是0.O1°和0.02°。2实验过程调节椭偏仪处于直通测量状态,使标准1/4波片的快轴位于+45°,起偏器P位于+45°,检偏器A位于135°,这时系统达到了消光的状态。把待测波片安装在有刻度盘的旋转支架上,然后置于样品台,调节波片使其表面与入射光线垂直,转动待测波片,使得系统重新达到消光状 ...
椭偏仪与偏振相位(七)- 波片相位延迟量测量误差分析影响波片相位延迟量测量准确度的因素主要有:标准1/4波片的偏差及待测波片快轴与入射面夹角θ的误差等,下面从公式(4)出发,讨论两者误差对波片测量延迟量的影响:(一)当标准1/4波片和待测1/4波片的相位延迟量都是理想的90°时,得到δ与θ的关系如图1所示,θ的变化范围是-4°至+4°。可见,当标准1/4波片和待测1/4波片在理想情况下,待测1/4波片的方位角θ不影响其相位延迟量测量。图1当标准1/4波片理想时待测波片δ与其方位的角θ的关系(二)实际上,由于波片受温度,及制作工艺的影响,其相位延迟量不可能是理想的90°。若待测1/4波片的相位延 ...
椭偏仪与偏振相位(六)- 精确测量波片相位延迟量的原理波片是基于晶体双折射性质的偏振器件,在光线技术、光学测量以及各种偏振光技术等领域具有广泛的应用,其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中应用尤其广泛。测量波片相位延迟量的方法主要有:光强探测法、旋光调制法、半阴法、光学补偿法等。这些方法主要基于对光强的测量,容易受光源的不稳定及杂散光的干扰,精度受到一定的限制,测量误差一般在0.5°左右。本文从理论上分析了利用椭偏仪测量波片相位延迟量的可能性,讨论了其测量精度及误差来源,并利用消光式椭偏仪测量了1/4波片以及1/2波片相位延迟量。实验表明:测量过程不受光强波动的影响,方法简单,操作方便,精确度 ...
椭偏仪与偏振相位(五)-相位延迟量测量的实验数据实验中,在前述测试系统上用上述几种方法测量了两片样品的位相延迟。两测试样品标称值分别为:630.2nm附近的λ/2波片和532.4nm附近的λ/4波片。光谱扫描曲线见图1,测量数据见表1、2。图1 光谱法测630.2nm附近λ/2波片的扫描曲线前面误差分析表明,光谱法测量λ/2波片的误差zui小,因而可以作为参考标准,其它方法测量结果可以与之相比较。由测量结果可见,光谱法与Soleil补偿器法测得结果的偏差约为0.19%,两种方法在误差范围内符合很好,得到了相互印证。而两种光强法的测量结果比照光谱法及Soleil补偿器法测量结果差异较大。而且按照 ...
椭偏仪与偏振相位(四)-光强测量法的原理及误差分析光强测量法1.测量原理所谓光强测量法是通过测量测试系统透过的光强值,利用透过光强与待测元件位相延迟关系计算出待测元件延迟值。测试系统构成与光谱扫描法相同,系统出射光强表达式也相同。式中Ω和θ是两个zui活跃的量,容易改变并准确测量。因此理论上讲,为避开对的测量,可任意测定两组不同的Ω和θ的光强值及,即可求出待测元件的延迟,其结果可以表示为:式(1)是光强法的通解。当保持θ不变,改变波片方位角Ω进行测量的方法为旋转待测波片法;而当保持Ω不变,改变θ的测量方法为旋转检偏器法。下面简述这两种常用方法的原理。(1)旋转待测波片法:旋转波片法通常采用读取 ...
椭偏仪与偏振相位(三)-补偿法的原理及误差分析补偿法1.测量原理补偿法是利用位相补偿器件将由待测元件产生的位相延迟补偿为0(或2π),从而测量波片位相延迟。通常有λ/4波片补偿法(Senamont法和Tardy法)和Soleil补偿器法。λ/4波片补偿法由于需要已知某波长处精确的λ/4波片,而且测不同波长的位相延迟需要不同波长的λ/4波片,所以此方法在高精度测量中并不可取,这里不再赘述。而Soleil补偿器的位相延迟连续可调,适用于不同波长延迟的测量,下面讨论这种方法。测试系统由起偏器、检偏器、待测元件和Soleil补偿器构成。通常起偏器和检偏器正交放置,Soleil补偿器的光轴与待测元件的光 ...
椭偏仪与偏振相位(二)-光谱扫描法的原理及误差分析光谱扫描法1.测量原理光谱扫描法是利用波片延迟与入射波长的函数关系,通过改变系统入射光波长,记录不同波长系统透过光强从而测得位相延迟的方法。测试系统由起偏器和检偏器及置于其间的待测元件等构成。若以起偏器透振方向沿x轴,双折射器光轴方位角为Ω,延迟为φ,检偏器透振方向为θ方向,则系统Jones矩阵可表示为:若以强度为的自然光入射,则系统出射光强可表示为:因此,测得Ω、θ、I(λ)及值即可计算出该波长所对应的延迟值。这种方法便于测量不同波长对应的位相延迟,若辅以精密的单色仪便可以方便快捷地获得大量数据。但考虑到系统表面反射及吸收损失,不易准确测得, ...
椭偏仪与偏振相位(一)-几种波片相位延迟测量的实验搭建波片是偏振光学技术中的重要元件,被广泛应用于光弹力学、现代光通讯技术、医疗诊断和物理学研究等诸多领域。在太阳物理研究领域,通过观测和分析太阳光的偏振状态可以得到太阳大气中磁场分布和演化等信息,以此可研究黑子、耀斑及日冕物质抛射(CME)等与磁场有关的太阳活动现象。现代太阳物理对磁场偏振测量精度要求甚高(10-3以上),而由于在太阳磁场测量设备的偏振分析器和滤光器中使用了大量波片,因而波片位相延迟精度将直接影响太阳磁场望远镜偏光系统的测量精度。随着研究的日益深入,人们对偏振测量精度提出了更高的要求,有些仪器,例如我国研制的大型空间太阳观测设备 ...
在其著作《应用光学和光学设计》一书中首先提出,即(D-d)方法。在(D-d)方法中,d表示光学系统中各光学零件沿光轴的厚度,D表示光线在相应零件中的光路长度。所以,就是轴上点发出的某一光线与沿轴光线之间的光程差或波像差。按此,同一孔径的F光和C光各自的光程差应是和,二者之差即为波色差,以表示,有式中第一项表示同一孔径的二色光线间的光程差。由于二色光的折射率差比折射率小得多,由此折射率差引起的二色光线的光路差别为一小量,而二光线的光程差更为二级小量。若略去这二级小量,则可用二色光的中间色光的光路长D来代替和,由此得这就是轴上点波色差的表示式。它表示二色波面于中心相切时,在所计算孔径处的偏离量。 ...
顾了人工智能应用光学计算的最新工作,并讨论了它的前景和挑战。最新工作回顾:(1) 用于人工智能的光子电路。现代DNN架构是线性层(linear layers)级联的,线性层后面是重复多次的非线性激活函数。最常见的线性层类型是全连接的,这意味着每个输出神经元都是所有输入神经元的加权和,即乘法累加(multiply accumulate,MAC)运算。这在数学上表示为矩阵向量乘法(matrix-vector multiplication),可以在光域中有效地实现。自早期光学计算工作以来发生的一个具体变化是,人们认识到特定架构(例如,基于奇异值矩阵分解的架构)中的马赫-曾德干涉仪 (MZI) 网格( ...
伴随着激光技术和微电子技术的在应用领域的突破,光纤光学与光纤技术也得到了人们更多重视,并迅速发展起来成为了近代光信息、高新领域的一个重要分支。自20世纪50年代以来,光纤应用技术在光纤传像、光纤照明与能量传输、光信号控制、光纤传感特别是光纤通信等民用与军用的重要领域获得了广泛而大量的应用,尤其在信息科学技术领域表现出越来越强大的生命力以及广阔的应用前景。相应地,光纤技术的升级转型必将对光纤应用技术、光纤通信等有更大的需求。1.光纤技术概述光纤技术是属于光波导技术的一个方面,而通常所指的光波导技术,则应包括以圆柱介质光波导为特征的光纤技术和以平板或带状介质光波导为特征的集成光路技术;与其相对应的 ...
像系统是国防应用光学元件的一个很好的例子。由于模制光学器件的复杂性,可以设计和制造包含尽可能少光学元件的轻量可穿戴夜视设备。成像 聚合物光学器件的广泛应用广泛,例如数码相机、PC 外围设备、视频会议摄像头和移动成像。生物识别安全系统、烟雾探测器光学系统、自动冲洗阀系统和实验室设备都受益于精密聚合物光学器件。定制光学器件材料光学塑料材料的选择有几个因素驱动,光学性能只是其中之一。设计人员还应该了解不同光学聚合物的机械性能,以及各种环境条件如何影响系统性能。成本和可制造性问题是其重要因素。塑料光学需要仔细考虑热塑性树脂的所有性能及其与目标应用和系统性能要求的相容性。下表列出了通常用于光学器件的 ...
或 投递简历至: hr@auniontech.com