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超短激光脉冲测量系统

FROG 超短脉冲测量分析仪中红外FROG超短脉冲测量仪高功率自相关仪FR-103HP超高灵敏度自相关仪FR-103HS通用自相关仪FR-103XL紧凑型自相关仪FR-103MN皮秒脉冲自相关仪FR-103WS微型自相关仪FR-103PDTPC自相关仪FR-103MC自相关仪FR-103TPM-双光子显微专用实时测量自相关仪FR-103kHz相位波前角色散测量仪色散测量仪软件CEO-AD二维成像光谱仪 (飞秒脉冲色散空间分布测量仪)CEO-NIR 二维成像光谱仪 (飞秒脉冲色散空间分布测量仪)CEO-800二维成像光谱仪 (飞秒脉冲色散空间分布测量仪)载波包络相位(CEP)测量仪材料色散空间分布测量仪(啁啾分布测量) 显示全部
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载波包络相位(CEP)测量仪

载波包络相位测量仪 --- 纯线性光学技术测量载波包络相位相移工具!

所属类别:激光测量设备 » 超短激光脉冲测量系统

所属品牌:匈牙利CE Optics公司

技术服务人员:谷工(Givin)

电话:185 1625 1863

邮箱:zonghao-gu@auniontech.com


载波包络相位测量仪

纯线性光学技术测量载波包络相位相移工具

载波包络相位测量仪CEOLiT用于对超短脉冲序列的CEP载波包络相位进行测量。其原理是超稳定传输环路的光谱由脉冲序列的CEP载波包络相位来决定。由于该技术是完全线性化技术,载波包络相位测量仪CEOLiT是能够对UV-IR极端波长微弱脉冲的载波包络相位进行测量的产品,光束带宽可以窄化到一个倍频程。

光谱相移,相位波前,角色散,材料色散,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量


当前测量CEP载波包络相位的常规方法要求:
激光脉冲需要倍频程宽度
足够的脉冲能力驱动非线性过程
频谱范围受非线性过程的限制

载波包络相位测量仪CEOLiT用于对超短脉冲序列的CEP载波包络相位进行测量。其原理是超稳定传输环路的光谱由脉冲序列的CEP载波包络相位来决定。由于该技术是完全线性化技术,载波包络相位测量仪CEOLiT是能够对UV-IR极端波长微弱脉冲的载波包络相位进行测量的产品,光束带宽可以窄化到一个倍频程。


产品特点:
基于线性光学干涉法
无带宽限制
对准及操作简单
无频谱范围限制
降低噪声及机械振动设计
CEP载波包络相位测量
采用超稳定HeNe激光,对环形长度进行测量并控制在1um以下
包含测量和稳定控制软件
CEP载波包络相位探测速度达35kHz


技术规格:


载波包络相位测量精度:@800nm

@1030nm

                      @1550nm

< 69 mrad

< 54 mrad

< 36 mrad

 

脉冲序列重频(MHz

68-90

脉冲序列最小脉冲数

<3

光谱范围(um

<0.15-20

通光孔径(mm

10

体积(L×W×H):

575×370×150



长期稳定性图:


相位噪声密度图:

 

 

 




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产品标签:光谱相移,相位波前,角色散,材料色散,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量

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